2009年2月5日，泰克攜手NEC公開演示完整的USB3.0測(cè)試解決方案 作者： 時(shí)間：2009-12-15 來源：電子產(chǎn)品世界 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫(kù)查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 2009年2月5日，泰克攜手NEC電子美國(guó)在2009年消費(fèi)電子展上首次公開演示完整的USB3.0測(cè)試解決方案。
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