半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備從高向低覆蓋
高端SoC測(cè)試測(cè)量設(shè)備趨向于靈活性提高,并降低成本。負(fù)責(zé)V93000系列SoC測(cè)試方案的Verigy混合信號(hào)與RF解決方案部產(chǎn)品開發(fā)高級(jí)總監(jiān)Wilhelm Radermacher說(shuō),以V93000系列來(lái)說(shuō),產(chǎn)品系列簡(jiǎn)潔,只有區(qū)區(qū)幾個(gè)系列,卻可以完成多種測(cè)試,秘訣就在于在測(cè)試臺(tái)上可以更換板卡,有的測(cè)試設(shè)備可以放置20多種板卡,其核心技術(shù)也在于這些板卡上Verigy專有的ASIC芯片(Verigy像安捷倫一樣,有自己的IC設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì),制作核心芯片),因此競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手很難模仿。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/106770.htmV101平臺(tái)是針對(duì)低端IC測(cè)試的,例如MCU測(cè)試,該產(chǎn)品2009年6月才推出。ASTS(特殊應(yīng)用測(cè)試解決方案)部的副總裁魏津博士說(shuō),該設(shè)備的重要目標(biāo)是在華的MCU制造商和代工廠。
內(nèi)存測(cè)試解決方案部副總裁兼總經(jīng)理Gayn Erickson說(shuō)內(nèi)存市場(chǎng)周期性變化影響顯著,預(yù)計(jì)2010年下半年內(nèi)存市場(chǎng)將恢復(fù),其驅(qū)動(dòng)力為智能手機(jī)、Windows 7,長(zhǎng)期驅(qū)動(dòng)力是SSD(固態(tài)硬盤),他引用應(yīng)用該材料公司的Mike Splinter的觀點(diǎn),認(rèn)為DRAM將在2010年一季度成為巨大的復(fù)蘇驅(qū)動(dòng)力。Verigy的V6000系列的特點(diǎn)是AC性能高于880Mbit/s,能同時(shí)測(cè)試超過(guò)18k I/O引腳和4k PPS(可編程電源)。同時(shí)可適合各種內(nèi)存器件,靈活可配置,成本較低。
VLSI Research公司預(yù)計(jì)先進(jìn)的內(nèi)存測(cè)試卡市場(chǎng)在2010年將達(dá)到5億美元市場(chǎng)(圖6),2013年達(dá)到8億美元市場(chǎng)。觸壓(Touchdown)技術(shù)部總裁Patrick Flynn稱,Verigy觸壓業(yè)務(wù)始于2006年,主要做基于MEMS的測(cè)試卡,用于內(nèi)存測(cè)試(NOR、DRAM和NAND)。與V6000系列一樣,服務(wù)同樣的客戶,但是成本更低。產(chǎn)品用于美國(guó)、我國(guó)臺(tái)灣、日本和新加坡。
評(píng)論