惠瑞捷推出HSM3G 高速存儲器測試解決方案

　　惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存儲器測試解決方案，進(jìn)一步拓展了面向 DDR3世代主流存儲器 IC 和更高級存儲器件測試能力的 V93000 HSM 平臺。V93000 HSM3G 獨(dú)特的優(yōu)勢在于其未來的可升級性，能夠?yàn)閿?shù)據(jù)傳輸速度高達(dá)6.8 Gbps未來的三代 DDR 存儲器提供價格低廉的測試服務(wù)，從而前所未有地長期節(jié)約經(jīng)濟(jì)成本。

　　惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“存儲器制造商一直在尋找一種既能滿足其生產(chǎn)和功能需求又能提供比一代器件壽命更長、投資價值更高的節(jié)約型 ATE 解決方案。我們可升級前所未有的 V93000 HSM 測試平臺的壽命，能夠?yàn)閺?DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 的至少三代設(shè)備提供卓越的投資回報。這些測試非常節(jié)約成本，業(yè)界其它產(chǎn)品均不可企及。”

　　V93000 HSM3G 的速度和功能將來都可以升級，提供了高速存儲器測試市場上最完整的功能。其可編程的、快速的每引腳 APG 能力得到了數(shù)據(jù)總線倒置 (DBI) 和循環(huán)冗余校驗(yàn)碼 (CRC) 數(shù)據(jù)的支持，能夠?qū)Ω呒壍?DDR4 存儲器技術(shù)功能進(jìn)行測試，確保了較高的測試質(zhì)量和產(chǎn)量。

　　得益于其每引腳的存儲器自動測試設(shè)備處理能力，V93000 HSM3G 可以節(jié)約高達(dá)20%的測試時間。它提供全并行模式的執(zhí)行(parallel pattern execution)、全并行的直流檢測以及眼寬的測量(eye-width measurements)，從而提供了非常高的多點(diǎn)效率。

　　V93000 HSM3G 在整個速度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了 2.9 Gbps 的原生數(shù)據(jù)傳輸率以及 256-site DDR3 實(shí)際并行測試(parallel testing)，而無需任何測試時間管理費(fèi)用，也不會影響準(zhǔn)確性、功能性、測試范圍以及產(chǎn)量。得益于其原生速度余量(native speed headroom)，HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 總線速度需求以及高端游戲 DDR3 以及前兩個 DDR4 大規(guī)模速度等級。V93000 平臺架構(gòu)確保將來能夠升級到更高速的設(shè)備。