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SPARQ系列述評之一

—— ——SPARQ概述
作者:汪進進 美國力科公司中國區(qū) 時間:2010-10-19 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  一,什么是?

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/113638.htm

  很多人在問,為什么要將這個產(chǎn)品命名為? 是S-Parameter Quick的簡稱——意為快速測量S參數(shù)。 SPARQ是不同于市場上已有的VNA和TDR的一種新型儀器,是力科在信號完整性測量領(lǐng)域的又一創(chuàng)新產(chǎn)品。 SPARQ是所有希望擺脫使用傳統(tǒng)VNA的苦惱(極其繁瑣的校準過程)的工程師們的福音!是所有想買VNA但又沒有足夠的預算的公司的福音(VNA實在是貴得“咬牙”)! 力科帶來福音,是因為力科聽到了工程師的聲音,知道了工程師的“痛”!

  那么,到底什么是SPARQ? SPARQ是一鍵操作式40GHz,4端口信號完整性,是信號完整性工程師以一種經(jīng)濟型投入測量S參數(shù)的新型儀器。 “經(jīng)濟型投入”是什么意思? 當我剛說完這句話,關(guān)心預算的老板馬上會追問我。 40GHz,4端口的VNA是多少錢? 20多萬美元? 我的天啊,金融危機還沒有真正結(jié)束,哪能花這么多就為了測量S參數(shù)啊!

  “SPARQ沒有那么貴, 40GHz,4端口的SPARQ中國公開價不需要六萬五千美元!您不相信嗎? 下訂單吧!”

  SPARQ為測量S參數(shù)而誕生,但不只是測量S參數(shù)。它還是信號完整性工程師解決信號完整性問題的綜合工具,它可以同時顯示時域和頻域測量結(jié)果,單模和混模測量結(jié)果,可對電纜、夾具都進行去嵌,可進入TDR/TDT的調(diào)試模式,并將可做眼圖,抖動測量等。

  二,為什么要研發(fā)SPARQ?

  力科公司一直致力于信號完整性解決方案的實用,豐富和完善。 SPARQ的誕生鞏固了我們在信號完整性解決方案上的領(lǐng)導地位,但更是解決了令信號完整性工程師感到“痛苦”的問題。

  我們首先來回顧一下力科在在SI解決方案上的孜孜追求和豐碩成果。早在1995年,力科就發(fā)布了定時抖動測量解決方案JTA,終結(jié)了抖動測量的稚嫩階段——用模擬余輝來測量抖動。發(fā)明的JitterTrack功能更是名噪一時,工程師競相奔走相告。 JitterTrack至今仍然是時域上抖動測量的最重要的調(diào)試工具,是信號完整性測量歷史上的經(jīng)典。 2001年,力科進一步推出了JTA2,在長存儲下的抖動分析能力更強了。 2002年,力科發(fā)明了連續(xù)比特位眼圖測量方法,從此終結(jié)了傳統(tǒng)的一次觸發(fā)一個比特位的眼圖測量方法。如今,連續(xù)比特位的眼圖測量方法已經(jīng)成為眼圖測量的“黃金標準”。同年發(fā)布的SDA更是一代信號完整性工程師的共同回憶——信號完整性的測量變得如此地強大豐富,但操作又如此地簡單! 2005年,力科發(fā)布了TDR和S參數(shù)測量方案。2006年,力科發(fā)明了最具有前瞻性的信號完整性工具Eye Doctor,將“仿真”的一些特點融入到示波器。 2009年,力科的競爭對手才發(fā)布了類似于Eye Doctor但功能遠不及Eye doctor的軟件包,但此時力科已走得更遠,發(fā)布了Eye DocotrII和SDA II。 ……

  當我們徜徉在信號完整性領(lǐng)域的輝煌過去時,我們發(fā)現(xiàn),時代變了。信號完整性已不只是信號的測量。在5Gb/s+測試測量時代,我們要預測信號可能會是什么樣子從而減少可能會犯的信號完整性方面的錯誤,因此需要仿真,因此需要測量S參數(shù)。 5Gb/s+,不是鬧著玩的!

  SPARQ是為信號完整性工程師而誕生的,但由于其在S參數(shù)測量上的天生優(yōu)越性,它將覆蓋所有需要測量S參數(shù)的市場。

  信號完整性(SI)的話題近年來越來越熱門。有那么一句流行語到處被引用,“這個世界上有兩種工程師,一種是正在遇到信號完整性問題,另外一種是即將遇到。” 信號完整性不只是測量,也不只是仿真,是仿真和測量的有機結(jié)合,這就屬于跨學科范疇了,因此真正的SI工程師屬于“人才難得”。隨著串行數(shù)據(jù)的普及特別是串行數(shù)據(jù)的速率越來越高,信號完整性中涉及到的PCB,連接器,背板,電纜等都已涉及到了微波射頻領(lǐng)的概念了,于是SI學科顯得更加“交叉”了。

  信號完整性工程師為避免SI問題,就需要在“方法論”上確保事情第一次就做對了,于是要先進行建模、仿真,然后通過測量來驗證設(shè)計的性能是否符合預先的指標要求。隨著信號速率的提高,很多建模和仿真越來越必要。 “建模”就需要測量S參數(shù)。而VNA作為S參數(shù)測量的傳統(tǒng)工具,其操作非常復雜。有些公司不得不專門招聘一個微波領(lǐng)域的工程師,就為了能正確地用好VNA來測量S參數(shù)?!∪绻徽衅高@樣專門微波領(lǐng)域的工程師,信號完整性工程師們、仿真專家們將不得不花很多時間來學習如何正確使用VNA。很多時候因為操作問題而不能得到的測量結(jié)果,于是浪費了很多時間在VNA這種“測量工具”本身上。力科有采樣示波器WE 100H可用來測量TDR,也能用來測量S參數(shù),但其校準過程繁瑣,測量的精度也不能滿足要求。 因此,我們需要研發(fā)一種產(chǎn)品,其測量S參數(shù)的操作簡單,速度快,同時精度也要足夠的高,這個思路的結(jié)果就是SPARQ這個創(chuàng)新的新型儀器的誕生!

  那么,好吧,既然信號完整性工程師要測量S參數(shù),那么我們就要了解目前的S參數(shù)測量設(shè)備的缺點是什么。 按我們的銷售說法是,要知道工程師的“痛”在哪里,從而我們要為治療工程師的“痛”來設(shè)計出有“價值”的產(chǎn)品! SPARQ就是這樣的一種為治療工程師的“痛”而誕生的產(chǎn)品!

  S參數(shù)您需要嗎? 那么您就需要SPARQ!



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