DDR測試技術(shù)和工具是否跟上了時代步伐?
DDR是雙倍數(shù)據(jù)速率的SDRAM內(nèi)存,如今大多數(shù)計算機系統(tǒng)、服務器產(chǎn)品的主流存儲器技術(shù),并且不斷向嵌入式系統(tǒng)應用領域滲透。孰不知,隨著iPhone等大牌智能手機的采納,DDR內(nèi)存儼然成為智能手機轉(zhuǎn)變的方向之一,例如韓國泛泰去年底最新推出的Android智能手機Vega X就搭載了512MB的DDR2內(nèi)存。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/118356.htmDDR技術(shù)不斷發(fā)展,并行總線達到了串行技術(shù)的速度,時鐘速度達到1GHz。目前,DDR3現(xiàn)在已經(jīng)具備1.6Gb/s的數(shù)據(jù)速率,而DDR3-1866及更高速率版本正在開發(fā)中,很快就會出現(xiàn)在市場上。目前主流的DDR2也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓,已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的DDR2-1066的1066MT/S、533MHz、1.8V電壓。另外,低能耗DDR(LP-DDR,用于便攜式計算機)和顯存GDDR也是DDR的發(fā)展變化版本。目前主流的DDR也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從DDR-266的266MT/S、133MHz、2.5V電壓,已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的DDR3-1600,1.5V電壓。另外,低能耗DDR(LP-DDR,用于便攜式計算機)也是DDR的發(fā)展趨勢之一。
圖1:DDR存儲器的設計正超過千兆位數(shù)據(jù)速率,時鐘速度就要達到1GHz,帶來了更大的測試挑戰(zhàn)。
技術(shù)的升級和應用領域的拓展,都使DDR存儲器的驗證和測試更具挑戰(zhàn)性。高數(shù)據(jù)速率和時鐘速度使得時序余量更緊張,導致串擾、阻抗匹配和抖動問題加劇,這需要使用高速測試測量技術(shù)和性能更高的測試測量工具,以獲得更好的信號捕獲能力、測試精度等。
DDR測試要點和難點
鑒于DDR的stub(短線)拓撲結(jié)構(gòu)和緊張的時序容限,在驗證和測試中要求檢驗多種指標,包括:電氣電源和信號電源質(zhì)量,噪聲、毛刺和地彈/地跳;時鐘信號質(zhì)量,上升時間和下降時間/slew rate ;命令、地址和數(shù)據(jù)有效窗口(建立/保持時間);DQS/DQ/時鐘偏斜。
DDR數(shù)據(jù)速率的不斷提升使得存儲系統(tǒng)的信號完整性問題日益凸顯。因此必須將物理層的信號與系統(tǒng)級的時序關(guān)聯(lián)起來,避免時序沖突、協(xié)議背離、時鐘抖動以及由總線引發(fā)的錯誤,確保存儲系統(tǒng)準確工作。需要關(guān)聯(lián)的時序包括:存儲器初始化時序;SDRAM模式寄存器操作(MSR);讀/寫數(shù)據(jù)有效窗口;休眠狀態(tài)的時序;普通工作狀態(tài)的時序。
至于DDR測試的難點,泰克的技術(shù)支持工程師余嵐最近在IIC-China的一場研討會中指出:“第一,DDR數(shù)據(jù)信號DQ和DQS是雙向的,所以讀信號和寫信號會同時出現(xiàn)在數(shù)據(jù)線上,比較難分離那些數(shù)據(jù)是讀數(shù)據(jù)哪些數(shù)據(jù)是寫數(shù)據(jù);第二,就是探測問題,DDR2或者3使用的是BGA封裝,測試管腳隱藏在芯片的底下,因此探頭的選擇非常重要。另外由于DDR2和DDR3速率非常高,所以對于帶寬和探測信號保真度要求就格外的高,而且很多時候我們光靠示波器已經(jīng)滿足不了測試的要求了,需要聯(lián)合比如邏輯分析儀等進行協(xié)議和時序的聯(lián)合測試。”
余嵐表示,帶寬/上升時間、采樣率、觸發(fā)方式、內(nèi)存軟件、探頭是DDR測試選擇示波器的重要考量指標,其中帶寬/上升時間是重中之重,包括連接、信號保真度。但需要聯(lián)合邏輯分析儀等設備時,通道數(shù)和采樣率是最重要的考慮因素。
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