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Multitest InCarrier又增新客戶

作者: 時(shí)間:2011-06-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  面向世界各地集成設(shè)備制造商(IDM)和最終分包商,設(shè)計(jì)和制造分選機(jī)、座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商公司,日前欣然宣布其從亞洲一家重要測(cè)試代工廠又收到一份訂單,訂購(gòu)產(chǎn)品是其獨(dú)一無二的InCarrier®測(cè)試設(shè)備。InCarrier®優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)單粒器件測(cè)試和其他高并行數(shù)測(cè)試方法。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/120113.htm

  該客戶選定了一種綜合解決方案,包括InCarrier上下料機(jī)、InStrip以及適于加速儀MEMS測(cè)試的InMEMS組件。

  與標(biāo)準(zhǔn)單粒器件測(cè)試和既有高并行數(shù)測(cè)試相比,InCarrier®將兩種分選解決方案的優(yōu)勢(shì)完美結(jié)合。因此,在測(cè)試后的切斷成形和引線框架設(shè)計(jì)方面,該方案克服了條帶測(cè)試的局限性。

  InCarrier™在實(shí)現(xiàn)高測(cè)試并行性的同時(shí),又帶來低測(cè)試成本,同時(shí)確保適合小型封裝的穩(wěn)定測(cè)試分選流程。因此,客戶處理2 x 2毫米封裝時(shí)比任何其他已知測(cè)試流程更加穩(wěn)定可靠。



關(guān)鍵詞: Multitest 測(cè)試

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