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Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測試成本

—— Multitest的Dura?Kelvin顯著降低總測試成本
作者: 時間:2011-07-06 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機、和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商公司,日前欣然宣布其Dura®Kelvin再次證明在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠,Dura®Kelvin顯著降低了總體測試成本。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/121118.htm

  在項目期限內(nèi),首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura®Kelvin明顯超過了所有目標(biāo),使用壽命已超過4百萬次插撥,這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就。

  Dura®Kelvin 僅需要在大約100個小時之后清洗。與原來的測試單元配置相比,這使與清洗相關(guān)的測試單元停機時間降低了90%。尤其對于低溫測試而言,這具有重要影響。



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