Synopsys將HAPS糾錯可見度提升100倍

　　全球領(lǐng)先的電子器件和系統(tǒng)設(shè)計、驗證和制造軟件及知識產(chǎn)權(quán)(IP)供應(yīng)商新思科技公司(Synopsys, Inc.， 納斯達克股票市場代碼：SNPS)日前宣布：為其HAPS 基于FPGA原型系統(tǒng)的用戶推出新版的Deep Trace Debug深度追蹤糾錯軟件。借助HAPS Deep Trace Debug，原型工程師可利用比傳統(tǒng)FPGA片上邏輯糾錯器所用的存儲器高出將近100倍的信號存儲容量。新的深度追蹤糾錯功能同時增強了容量和故障隔離性能，同時釋放片上FPGA存儲器來滿足驗證復(fù)雜的系統(tǒng)級芯片(SoC)設(shè)計之需求。

　　“Qualcomm Atheros公司的Wi-Fi/Bluetooth組合產(chǎn)品使用了領(lǐng)先的Wi-Fi標準，以實現(xiàn)每秒千兆比特的吞吐量，這需要如Synopsys HAPS系統(tǒng)所提供的先進硬件及軟件驗證技術(shù)，” Qualcomm Atheros公司工程總監(jiān)Manoj Unnikrishnan說道。“我們傳統(tǒng)的方法需要多次運行并進行反復(fù)試錯。HAPS Deep Trace Debug所提供的高容量采樣存儲使我們能夠快速找出錯誤并加速整個系統(tǒng)的驗證。此外，HAPS Deep Trace Debug可以幫助我們提高狀態(tài)機覆蓋、原型機覆蓋以及測試模式的生成。”

　　為確保高速接口設(shè)計的正確功能，在幾毫秒內(nèi)通常需要獲得幾十個采樣點。傳統(tǒng)上，設(shè)計師不得不做出選擇：以消耗大量的FPGA存儲資源來捕獲冗長的信號追蹤歷史記錄，還是丟失信號追蹤歷史記錄的細節(jié)可見度來節(jié)省FPGA存儲資源。通過將Synopsys^® Identify^®智能集成電路仿真器(IICE™)與一個HAPS Deep Trace Debug SRAM子板配對，HAPS Deep Trace Debug允許許多獨特的帶有復(fù)雜觸發(fā)條件的信號探點可被記錄，并且在系統(tǒng)執(zhí)行時存儲大量狀態(tài)歷史記錄來提供更深的記錄。SRAM子板也可釋放FPGA片上RAM，使其用于為SoC設(shè)計的存儲模塊提供原型。

　　“GSI技術(shù)NBTSRAM被設(shè)計到HAPS Deep Trace Debug SRAM的子板之上，這在SoC原型的性能高度優(yōu)先時，使設(shè)計師能夠最充分利用HAPS的互連總線帶寬，” GSI科技市場營銷兼應(yīng)用工程副總裁David Chapman說道。“我們的SRAM器件同時提供了流水線和直通式操作，以便為SoC原型工程師在快速讀取存儲器的響應(yīng)與最大時鐘頻率之間進行選擇提供了靈活性。GSI NBT SRAM系列與新思科技的Deep Trace Debug功能相結(jié)合，確保了工程師將他們的HAPS系統(tǒng)用于SoC存儲的IP主控制或者作為一個擴展的調(diào)試追蹤緩沖器。”

　　“隨著各種SoC硬件與軟件的復(fù)雜性不斷提高，設(shè)計師們需要先進的糾錯工具來提升其系統(tǒng)驗證流程的穩(wěn)健性，并支持早期的軟件開發(fā)，”新思科技IP與系統(tǒng)事業(yè)部市場副總裁John Koeter說道。“HAPS Deep Trace Debug通過確保原型工程師能夠去捕獲冗長的信號追蹤歷史記錄來識別設(shè)計錯誤的根本原因，因而代表了復(fù)雜SoC的糾錯產(chǎn)出率的重大提高。”