NI參加2012年汽車測試及質量監(jiān)控博覽會

　　美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于2012年9月18日至20日參加在上海光大會展中心舉辦的2012年汽車測試及質量監(jiān)控博覽會。在此次汽車測試與質量監(jiān)控博覽會上面，NI聯(lián)合多家業(yè)內資深的合作伙伴集中展示了在汽車領域多項前端應用和解決方案。

　　NI公司的產品幾乎被所有的汽車OEM與一級供應商所采用。因為具有領先的I/O、靈活的硬件、強大高效的LabVIEW平臺，用戶可以創(chuàng)建適合多種應用的解決方案。目前，NI的產品涉及了快速控制原型、汽車終端測試、TEST Cell的測量與控制、硬件在環(huán)、車載測試與記錄等幾大領域。在此次博覽會上NI帶來了下列幾項產品的展示:

　　· μs級電機高速仿真，為目前最熱門的新能源汽車的前期仿真和硬件在環(huán)應用帶來突破性的進展;

　　· CAN、LIN、FlexRay總線的綜合測試應用;

　　· DIADem上的碰撞測試與分析

　　· 以模塊化儀器PXI以及嵌入式平臺CompactRIO為核心的多項應用方案

　　與此同時，NI攜手幾家業(yè)界資深合作伙伴(北京恒潤科技、蘇州凌創(chuàng)電子、上海聚星儀器和上海其高電子)分別就ECU硬件在環(huán)、汽車綜合電子系統(tǒng)測試、車載數(shù)據(jù)記錄和汽車NVH測試等等提供了完整的解決方案。展會現(xiàn)場多家合作伙伴也提供了他們對于整車廠商和一級供應商提供的成熟解決方案。

　　除了產品展示之外，在展會首日應組辦方邀請，NI資深行業(yè)工程師以“NI推動汽車行業(yè)關鍵應用的發(fā)展”為題作了主題報告，深入分析了當天幾個熱門領域話題，包括新能源汽車及電氣化、燃油經(jīng)濟性提升、安全性與新26262標準、整車或發(fā)動機臺架測試、及Telematics綜合測試等汽車電子的幾大發(fā)展趨勢，以及NI對應提供的解決方案。同時NI的合作伙伴也就他們多年來在汽車行業(yè)的應用作了深入介紹。

　　相信通過此次博覽會，客戶一定可以就NI在汽車電子測試領域的理念和產品有一個較全面的了解。