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尚德太陽能組件在第三方的 PID 測試中表現(xiàn)優(yōu)異

作者: 時(shí)間:2012-11-03 來源:中電網(wǎng) 收藏

  美國舊金山2012年11月1日電 /美通社/ -- 世界最大的太陽能組件生廠商太陽能電力控股有限公司(NYSE:STP)今天宣布,其 多晶、 單晶和 Ve 多晶系列組件在近期與世界權(quán)威的 VDE 測試機(jī)構(gòu)合作的第三方測試中表現(xiàn)出良好的抗 PID(電勢誘導(dǎo)衰減)特性。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/138497.htm

  根據(jù) VDE 的測試報(bào)告,參與測試的組件產(chǎn)品“在一系列的測試之后沒有出現(xiàn)較大的功率衰減…”。此次的所有組件在實(shí)驗(yàn)室測試精度范圍內(nèi)其功率輸出均未出現(xiàn)明顯的變化,其外觀也沒有發(fā)生任何變化。

  “測試中幾近完美的測試結(jié)果符合我們產(chǎn)品的質(zhì)量預(yù)期,”澳大利亞技術(shù)總監(jiān)、組件可靠性測試方面世界著名的專家之一 Stefan Jarnason 說到,“在高度競爭化的全球市場中,尚德持續(xù)專注于幫助客戶降低能源生產(chǎn)成本和提高能源長期產(chǎn)出帶來的收益,而不是僅僅為客戶提供更加低價(jià)的產(chǎn)品。”

  根據(jù)VDE的第三方測試報(bào)告,尚德多晶、Wd單晶和Ve多晶系列太陽能組件均表現(xiàn)出良好的抗 PID(電勢誘導(dǎo)衰減)特性,在實(shí)驗(yàn)室測試精度范圍內(nèi)其功率輸出均未出現(xiàn)明顯的變化,其外觀也沒有發(fā)生任何變化。

  該項(xiàng)嚴(yán)格的測試流程是基于 TUV Rhineland 根據(jù) PID 現(xiàn)象進(jìn)行開發(fā)的測試方法。首先,對組件進(jìn)行功率測試和 EL 圖片測試;其次,組件在高濕和負(fù) 1000V 電壓環(huán)境下持續(xù)一周進(jìn)行測試;最終對組件進(jìn)行功率測試和 EL 圖片以檢測其可能出現(xiàn)的缺陷;

  由于太陽能系統(tǒng)在不同的環(huán)境下高電勢對組件的持續(xù)作用,會(huì)加速組件產(chǎn)品的功率衰減。通過對原材料的仔細(xì)篩選、制造工藝的優(yōu)化、良好的質(zhì)量控制,尚德極大的降低了由于 PID 帶來的組件功率損失風(fēng)險(xiǎn)。

 



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