尚德太陽能組件在第三方的 PID 測試中表現(xiàn)優(yōu)異

　　美國舊金山2012年11月1日電 /美通社/ -- 世界最大的太陽能組件生廠商尚德太陽能電力控股有限公司(NYSE：STP)今天宣布，其 Wd 多晶、Wd 單晶和 Ve 多晶系列組件在近期與世界權(quán)威的 VDE 測試機構(gòu)合作的第三方測試中表現(xiàn)出良好的抗 PID(電勢誘導(dǎo)衰減)特性。

　　根據(jù) VDE 的測試報告，參與測試的尚德組件產(chǎn)品“在一系列的測試之后沒有出現(xiàn)較大的功率衰減…”。此次的所有組件在實驗室測試精度范圍內(nèi)其功率輸出均未出現(xiàn)明顯的變化，其外觀也沒有發(fā)生任何變化。

　　“測試中幾近完美的測試結(jié)果符合我們產(chǎn)品的質(zhì)量預(yù)期，”尚德澳大利亞技術(shù)總監(jiān)、組件可靠性測試方面世界著名的專家之一 Stefan Jarnason 說到，“在高度競爭化的全球市場中，尚德持續(xù)專注于幫助客戶降低能源生產(chǎn)成本和提高能源長期產(chǎn)出帶來的收益，而不是僅僅為客戶提供更加低價的產(chǎn)品。”

　　根據(jù)VDE的第三方測試報告，尚德Wd多晶、Wd單晶和Ve多晶系列太陽能組件均表現(xiàn)出良好的抗 PID(電勢誘導(dǎo)衰減)特性，在實驗室測試精度范圍內(nèi)其功率輸出均未出現(xiàn)明顯的變化，其外觀也沒有發(fā)生任何變化。

　　該項嚴格的測試流程是基于 TUV Rhineland 根據(jù) PID 現(xiàn)象進行開發(fā)的測試方法。首先，對組件進行功率測試和 EL 圖片測試;其次，組件在高濕和負 1000V 電壓環(huán)境下持續(xù)一周進行測試;最終對組件進行功率測試和 EL 圖片以檢測其可能出現(xiàn)的缺陷;

　　由于太陽能系統(tǒng)在不同的環(huán)境下高電勢對組件的持續(xù)作用，會加速組件產(chǎn)品的功率衰減。通過對原材料的仔細篩選、制造工藝的優(yōu)化、良好的質(zhì)量控制，尚德極大的降低了由于 PID 帶來的組件功率損失風險。