首批基因芯片出生缺陷基因診斷技術(shù)落戶山西

　　山西省人口計生委科學(xué)研究所日前公布，首批基因芯片出生缺陷基因診斷技術(shù)落戶山西，該技術(shù)可在孕期診斷出400多種遺傳學(xué)疾病。據(jù)悉，目前這項技術(shù)對出生缺陷的檢出率可達28%，傳統(tǒng)的檢查方法只有5%~10%的檢出率。

　　據(jù)了解，此技術(shù)由美國加州大學(xué)基因芯片臨床診斷中心主任李新民推廣至山西。此外，李新民還將推廣第三代測序技術(shù)。按照國際生物科學(xué)界的分類，第一代測序技術(shù)完成人的全基因組測序花費了10年的時間(2000年前后的人類基因組計劃)，第二代測序技術(shù)只需要10天時間，而第三代測序技術(shù)只需要1天時間，甚至更短。