有助于產(chǎn)品測試的八端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

   多端口和平衡器件數(shù)量的上升使RF/微波測試變得復(fù)雜。因?yàn)閷ζ胶?微分)器件和多端口設(shè)備進(jìn)行測試需要多個(gè)測試通道，傳統(tǒng)的四端口矢量分析儀(VNA)要花雙倍于八端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的時(shí)間才能完成對這些器件的測試。 
   一個(gè)提高測試速度的方法是增加的測試通道，這也是ZVT 8的設(shè)計(jì)指導(dǎo)思想。ZVT 8為Rohde & Schwarz提供的業(yè)內(nèi)第一代八端口矢量分析儀VNA，其頻率范圍為300kHz～8GHz。 

   ZVT 8八個(gè)端口中的每一個(gè)端口都具有獨(dú)立的反射計(jì)(VSWR橋、測量接收器和參考接收器)，且每個(gè)反射計(jì)都有獨(dú)立的發(fā)生器。因所有的接收器都能從不同的測量通道同時(shí)獲取、處理并傳輸數(shù)據(jù)，這樣ZVT 8就可對具有多端口(甚至幾個(gè)多端口)的設(shè)備或平衡器件進(jìn)行測試，且無需重新連接。 

   基本的ZVT 8(見圖)有兩個(gè)端口。其八個(gè)端口中的其它端口和相應(yīng)的發(fā)生器/接收器則在需要時(shí)進(jìn)行添加。ZVT8整個(gè)頻率范圍內(nèi)的動(dòng)態(tài)范圍大于120dB，電平掃頻范圍為-40～+13dBm。跟蹤噪聲通常低于0.01dB，可在不超過8 ms的時(shí)間內(nèi)獲取201個(gè)測試點(diǎn)。ZVT 8的常規(guī)性能可見附表。 

 


   ZVT 8操作簡單(即使在測試多個(gè)參數(shù)時(shí)亦是如此)，基于Windows XP嵌入式操作系統(tǒng)，配置有用于連接網(wǎng)絡(luò)的IEEE-488 和10/100BaseT Ethernet接口。通過使用外部顯示器、鍵盤、鼠標(biāo)完成本地操作。其屏幕內(nèi)容可用bmp、png、jpg或emf文件格式保存，測試結(jié)果可加載至多種文字處理軟件或以電子表格的形式處理。跟蹤數(shù)據(jù)可用Touchstone(*.snp)、 ASCII(*.csv)或Matlab(*.dat)文件格式進(jìn)行保存。 

   ZVT 8可用一條指令實(shí)現(xiàn)對某個(gè)設(shè)備所有通道的測量，這樣就大降低了多端口測量的掃描次數(shù)并提高了測試速度。ZVT 8還消除了測試端口和測量接收器間的衰減，此類衰減在采用基于轉(zhuǎn)換基質(zhì)多端口系統(tǒng)的多端口分析儀中很常見。ZVT8的接收器采用基礎(chǔ)混合(fundamental mixing)技術(shù)，該技術(shù)目前被用于該公司所有的矢量分析儀，大大提高了動(dòng)態(tài)范圍并降低了跟蹤噪聲。 

 


   每對反射計(jì)配備隔離發(fā)生器的多發(fā)生器技術(shù)允許將測試端口按組(但同時(shí)又彼此獨(dú)立地)同時(shí)完成測量。這樣，ZVT 8可并行測試多個(gè)器件或一個(gè)器件的多個(gè)通道 。不同設(shè)備的測試程序可存儲(chǔ)在硬盤，并同時(shí)下載至RAM。在本地操作中，鼠標(biāo)用于選擇不同的設(shè)置窗口，并且用戶接口非常簡單、直接。通過遠(yuǎn)程控制可在10 ms內(nèi)改變測試程序。而大部分矢量分析儀完成這一轉(zhuǎn)變至少需要1 s。 

   ZVT 8最多可支持100個(gè)通道，每個(gè)通道有100個(gè)trace。通過連續(xù)處理不同的通道，ZVT8可描繪出各個(gè)通道的被測試設(shè)備在不同條件下的特性。 

   ZVT 8可任意地配置以直接訪問所有反射計(jì)的發(fā)生器和接收器，將接收器和發(fā)生器的信號通道通過SMA連接器直接到前面板。這樣就旁路了VSWR橋(和相應(yīng)的損耗)，從而可在更高的輸出電壓等級和更高的敏感度下進(jìn)行測量。并且高阻斷器件可在高達(dá)140dB(IF頻寬為10Hz)的動(dòng)態(tài)范圍下完成測量。 

   因ZVT8的每個(gè)測試端口配備有專用的參考接收器，除標(biāo)準(zhǔn)TOSM雙端口校準(zhǔn)之外還可采用一系列校準(zhǔn)技術(shù)完成對ZVT8的校準(zhǔn)。TOM、TRM、TRL也可像多端口技術(shù)一樣應(yīng)用良好。ZVT8還支持所有端口的網(wǎng)絡(luò)/測試固定嵌入和反嵌入。