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安捷倫發(fā)布適用于電子測(cè)量的多功能分析儀

作者: 時(shí)間:2013-02-20 來(lái)源:慧聰電子網(wǎng) 收藏

  科技公司日前宣布推出Agilentx1149邊界

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/142138.htm

  邊界掃描已經(jīng)成為工程師們?cè)趹?yīng)對(duì)日益增加的測(cè)試接入挑戰(zhàn)時(shí)必不可少的技術(shù)。x1149邊界是一款功能廣泛、使用方便的電路板測(cè)試工具,能夠幫助用戶進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)和驗(yàn)證,以及在生產(chǎn)過(guò)程中重復(fù)進(jìn)行相同的x1149測(cè)試。

  該分析儀提供了直觀的操作界面,您只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可在屏幕上輕松瀏覽所有信息。關(guān)鍵特性包括:

  •覆蓋擴(kuò)展技術(shù)和硅釘能力。

  •直接使用STAPL標(biāo)準(zhǔn)文件用于CPLD/FPGA的燒錄。

  •掃描路徑鏈接器(ScanPathLinker)可將多條鏈路連接到一條鏈路上。

  •完全兼容的器件支持IEEE1149.1和IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn)。

  測(cè)量系統(tǒng)事業(yè)部總經(jīng)理BoonKhimTan表示:“在iNEMI調(diào)查中,90%的受訪者認(rèn)為內(nèi)置自測(cè)(BIST)功能是產(chǎn)品測(cè)試的關(guān)鍵;而60%的電路板設(shè)計(jì)人員表示自己需要使用BIST對(duì)電路板的性能進(jìn)行驗(yàn)證。BIST的接入方法主要是通過(guò)邊界掃描進(jìn)行接入。”

  “x1149邊界為滿足業(yè)界更多BIST需求而特別設(shè)計(jì)的。我們持續(xù)致力于為客戶提供最佳的投資回報(bào),x1149就是證明。它是一款多功能的儀器,可在從設(shè)計(jì)和驗(yàn)證到批量生產(chǎn)的整個(gè)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中使用。所有儀器均具有相同的測(cè)試可過(guò)渡移植性、可靠性和穩(wěn)定性,這是安捷倫解決方案的標(biāo)志性優(yōu)勢(shì)。”



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