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數(shù)字熒光示波器中隨機(jī)采樣技術(shù)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

作者:葉少朋 崔城 張巖 時(shí)間:2013-02-27 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  實(shí)時(shí)采樣技術(shù)是普通電子測(cè)量?jī)x器中常用的信號(hào)采集手段,其對(duì)信號(hào)數(shù)據(jù)獲取的能力受到儀器中A/D模塊的最高采樣率的限制。為了彌補(bǔ)這個(gè)限制,我們采用隨機(jī)采樣技術(shù),這樣對(duì)于器件的選用有很大的余地,可大幅度降低制造成本。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/142473.htm

  隨機(jī)采樣的原理

  根據(jù)Nyquist采樣定理,當(dāng)信號(hào)的頻率遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于A/D的采樣頻率時(shí),是無(wú)法重新構(gòu)建的。所以對(duì)高速的信號(hào)可以采用隨機(jī)采樣。隨機(jī)采樣是通過(guò)測(cè)量每次A/D采樣序列的起點(diǎn)和固定基準(zhǔn)點(diǎn)(信號(hào)觸發(fā)點(diǎn))的時(shí)間差Δt,由于Δt具有隨機(jī)性,所以通過(guò)對(duì)信號(hào)的n次采樣,如果n足夠大,通過(guò)隨機(jī)采樣序列的疊加就可以將恢復(fù)出來(lái)。其原理如圖1所示?! ?/p>

 

  由于每輪采樣時(shí),Δt是一個(gè)隨機(jī)值,如果將取樣周期T等分為M段,每段分別對(duì)應(yīng)0~M-1間的一個(gè)值。經(jīng)過(guò)若干輪采樣后,就可以取遍一個(gè)采樣周期T內(nèi)所有的M值。在周期性輸入信號(hào)的前提下,就可以用多輪采樣數(shù)據(jù)序列重建出原。在圖1中,M=4,需要進(jìn)行四輪采樣。

  隨機(jī)采樣系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)方案

  系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)方案

  圖2為隨機(jī)采樣系統(tǒng)電路框圖。被測(cè)信號(hào)經(jīng)模擬通道進(jìn)行衰減、放大后,由快速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(FADC)進(jìn)行采樣和量化,將采樣后的數(shù)據(jù)送至并緩存在FIFO中。同時(shí)被測(cè)信號(hào)經(jīng)觸發(fā)電路后產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào),經(jīng)隨機(jī)采樣時(shí)間測(cè)量電路產(chǎn)生觸發(fā)點(diǎn)與其后第一個(gè)采樣脈沖之間的時(shí)間差Δt。慢速模數(shù)轉(zhuǎn)換器SADC把Δt變?yōu)閿?shù)字量,送至。

  是系統(tǒng)的控制核心,通過(guò)SPI串行總線接收ARM發(fā)送的各種控制命令,對(duì)系統(tǒng)工作實(shí)行控制,并完成波形數(shù)據(jù)的數(shù)字熒光處理。

  隨機(jī)采樣時(shí),F(xiàn)PGA內(nèi)部的控制模塊根據(jù)ARM發(fā)來(lái)的控制命令對(duì)外部隨機(jī)采樣時(shí)間測(cè)量電路的工作進(jìn)行控制,波形重建模塊根據(jù)讀取的值計(jì)算出對(duì)應(yīng)的0~M-1間某個(gè)組數(shù)值I,并根據(jù)I值進(jìn)行各組采樣數(shù)據(jù)的排序,計(jì)算出對(duì)應(yīng)的RAM存儲(chǔ)地址,并將FIFO中緩存的各組采樣數(shù)據(jù)按相應(yīng)的地址存入RAM中。

  當(dāng)組數(shù)值I遍布0~M-1間所有值時(shí),則一個(gè)完整的波形已經(jīng)被重建好,波形重建模塊將RAM中組好的數(shù)據(jù)送至數(shù)字熒光處理模塊轉(zhuǎn)換為顯示波形的圖像數(shù)據(jù),數(shù)字熒光處理模塊會(huì)定時(shí)將波形圖像數(shù)據(jù)送至ARM顯示。

  整個(gè)隨機(jī)采樣時(shí)間測(cè)量電路的關(guān)鍵是對(duì)Δt的精確測(cè)量和波形數(shù)據(jù)的重組。

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