NI攜手TD產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟參加首屆中國電子信息博覽會(huì)

　　美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于2013年4月10-12日參加了由工業(yè)和信息化部與深圳市人民政府共同舉辦的第一屆中國電子信息博覽會(huì)(簡稱：CITE)。本屆博覽會(huì)是在原有中國電子展、中國消費(fèi)電子展(CEF)、深圳光電顯示周、中國(國際)彩電節(jié)的基礎(chǔ)上整合而成。展會(huì)展出產(chǎn)品技術(shù)覆蓋電子信息產(chǎn)業(yè)全產(chǎn)業(yè)鏈，是目前為止亞洲最大規(guī)模的綜合電子信息展覽。通過參與“TD產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟”的綜合展區(qū)， NI向到場嘉賓展示了NI在無線通信領(lǐng)域尤其是移動(dòng)通信測試的最新產(chǎn)品和技術(shù)?！　?/p>本文引用地址：http://www.butianyuan.cn/article/144602.htm

 

　　NI的無線通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化射頻儀器構(gòu)架，基于現(xiàn)成可用的模塊化硬件設(shè)備，通過豐富的射頻與無線工具包以及IP共享，從TD-LTE到最新的802.11ac，工程師可快速實(shí)現(xiàn)從研發(fā)驗(yàn)證到生產(chǎn)測試的一體化流程：對(duì)于研發(fā)驗(yàn)證，通過提供基于軟件無線電架構(gòu)的開放式測試驗(yàn)證平臺(tái)，助力企業(yè)和研究院所的自主創(chuàng)新和自主知識(shí)產(chǎn)權(quán);對(duì)于制造測試，通過提供高速并行式產(chǎn)線測試平臺(tái) ，為企業(yè)提供高性價(jià)比的一站式測試解決方案 。

　　NI在現(xiàn)場設(shè)置的展臺(tái)向到場嘉賓展示了NI在無線通信領(lǐng)域的最新產(chǎn)品和技術(shù)，包括基于業(yè)界首款矢量信號(hào)收發(fā)儀NI PXIe-5644R 的802.11ac測試系統(tǒng)，TD-LTE終端測試系統(tǒng)，以及針對(duì)移動(dòng)通信終端的多協(xié)議多終端并行測試系統(tǒng)。

　　PXIe-5644R結(jié)合了矢量信號(hào)分析儀、矢量信號(hào)發(fā)生器以及基于FPGA的實(shí)時(shí)信號(hào)處理和控制，具有快速的測量速度和小巧的組成結(jié)構(gòu)，同時(shí)具有高靈活性和性能。PXIe-5644R具有高達(dá)80 MHz的實(shí)時(shí)帶寬以及最高至6 GHz的中心頻率，并提供了業(yè)界領(lǐng)先的EVM測量性能，可以滿足802.11ac的帶寬，頻率，精度要求. PXI平臺(tái)可提供同步功能，使得其尤其適用于MIMO，單個(gè)機(jī)箱中可允許使用多達(dá)5個(gè)PXIe-5644R，來構(gòu)建5x5 MIMO系統(tǒng)。

　　多協(xié)議多終端并行測試系統(tǒng)方便地實(shí)現(xiàn)了單套測試系統(tǒng)并行測試四個(gè)待測終端，具體包括GSM的校準(zhǔn)與綜測、WCDMA的校準(zhǔn)與綜測、WiFi測試、Bluetooth測試以及GPS測試等，為進(jìn)一步提升測試效率降低測試成本提供了一站式解決方案。

　　對(duì)于日益復(fù)雜化的消費(fèi)電子產(chǎn)品和移動(dòng)終端來說，測試工程師所需要關(guān)心的除了射頻之外，還需要開發(fā)攝像頭，屏幕，耳機(jī)，電池以及數(shù)字接口的測試系統(tǒng)，測試需求越來越復(fù)雜。NI所提供的測試平臺(tái)除了射頻測試之外，還能為包括數(shù)字接口，音視頻，電池等其他各項(xiàng)功能提供一站式測試平臺(tái)。

　　通過與TD聯(lián)盟的合作，NI希望能抓住TD產(chǎn)業(yè)鏈蓬勃發(fā)展的機(jī)遇，為研發(fā)驗(yàn)證及制造測試的工程師們提供一個(gè)統(tǒng)一的平臺(tái)，幫助降低測試成本，從而提高產(chǎn)品的市場競爭力，為電子、通信領(lǐng)域的飛速發(fā)展提供測試技術(shù)強(qiáng)力支撐。