基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

　　在配置1時，上行只在子幀2、3、7和8四個位置發(fā)送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令，指令的指示對象及重傳位置關(guān)系如圖1所示?！　?/p>本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/145029.htm

 

　　測試平臺

　　硬件平臺

　　性能測試目的在于模擬實際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率，因此需要基站與測試儀器進行聯(lián)調(diào)。硬件測試平臺包括：支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發(fā)生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統(tǒng)調(diào)試)。測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如下：PXB實時產(chǎn)生TD-LTE上行信號并經(jīng)過特定信道模型下的衰落后，輸出的基帶I/Q信號經(jīng)過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線。基站端對接收到的射頻信號進行解調(diào)解碼，并以RS232C的串行通信方式將反饋結(jié)果(ACK/NACK指令)傳回至PXB，PXB根據(jù)ACK/NACK指令實時調(diào)整RV因子重新發(fā)送數(shù)據(jù)包或選擇放棄當前數(shù)據(jù)包(當eNB發(fā)送ACK信號或是已達到最大重傳次數(shù))。最后基站端統(tǒng)計得到系統(tǒng)的吞吐率。

　　如果測試環(huán)境確實希望使用外置信道仿真器，則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號發(fā)生器即可完成上述系統(tǒng)的測試。典型的測量系統(tǒng)如圖3所示。