新聞中心

EEPW首頁 > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計應(yīng)用 > 采用PSoC片上系統(tǒng)芯片的非接觸式感應(yīng)按鍵界面設(shè)計

采用PSoC片上系統(tǒng)芯片的非接觸式感應(yīng)按鍵界面設(shè)計

作者: 時間:2012-07-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

本文PSoc片上,實現(xiàn)了、穩(wěn)定可靠的電容式的設(shè)計。

1 片上

微處理器由處理器內(nèi)核、資源、數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)組成。片上系統(tǒng)包含8個數(shù)字模塊和12個模擬模塊。這些模塊都可進行配置,用戶通過對這些模塊進行配置,定義出用戶所需要的功能。數(shù)字模塊可配置成定時器、計數(shù)器、串行通信口(UARTS)、CRC發(fā)生器、PWM脈寬調(diào)制等功能模塊。模擬模塊可配置成模數(shù)轉(zhuǎn)換器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、可編程增益放大器、可編程濾波器、差分比較器等功能模塊。數(shù)字模塊和模擬模塊也可構(gòu)成調(diào)制解調(diào)器、復(fù)雜的馬達控制器、傳感器信號的處理電路等。

2 電容式原理

電容開關(guān)是一對相鄰電極,在電極之間有很小的電容。當(dāng)一個導(dǎo)體接近兩個電極時,在電極與導(dǎo)體之間會產(chǎn)生一個耦合電容。在這里,手指就是這個導(dǎo)體,通常電容開關(guān)的形式是一邊接地的電容,導(dǎo)體的存在增加了開關(guān)到地之間的電容。檢測是否有手指靠近,也就是檢測是否有按下,可依據(jù)電容的變化來判斷。檢測電容變化的方法有很多:電流與電壓相位差檢測、電容構(gòu)成振蕩器進行頻率檢測、電容橋電荷轉(zhuǎn)換檢測。因為電容橋電荷轉(zhuǎn)換檢測的方法較適用于大量掃描和PSoC的性能,所以在此該方法進行檢測。

電荷轉(zhuǎn)換電路從概念上來說與R-C充放電電路相似,如圖1所示。電荷轉(zhuǎn)移的優(yōu)點是不需要附加電阻器件。CP的電容,它的值隨著電極材料上所加導(dǎo)體而改變。Csum是參考總電容。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/148774.htm



在檢測周期開始,通過一個復(fù)位開關(guān)把Csum上的電荷全部放掉。然后通過單刀雙向開關(guān)使Cp工作在非重迭的周期上。在第一半周,Cp連接到VDD充電。當(dāng)CP上的電荷以由CP值決定的速度充到VDD時,開關(guān)斷開,然后把開關(guān)連接到Csum,Cp上的電荷轉(zhuǎn)移到Csum中。

在圖1中,因為Csum的電容值比Cp大得多,所以Csum上的電壓值在充電的每一周期內(nèi)只有微小的增加。這個Cp到Csum上的電荷轉(zhuǎn)換周期重復(fù)許多次,以使Csum上積累到一個大的信號值。當(dāng)連接到VDD時,電容Cp上的電荷為:

Q=CV (1)

不是Cp上的所有電荷都轉(zhuǎn)移到Csum中。當(dāng)Cp上的電壓跌落到Csum上的預(yù)存電壓時,轉(zhuǎn)換便不再進行。為檢測感應(yīng)的電容值是否有改變,可通過Cp-Csum的充放電方式,把Csum充到固定的閾值VTH,再計算到達這個閾值時的周期數(shù)。在任意采樣點n,Csum上的電壓值為:



圖2示出了充放電115ms后的電荷轉(zhuǎn)換波形。其充放頻率為6MHz,所以其轉(zhuǎn)換次數(shù)為700次。



式(2)很明顯是一個指數(shù)函數(shù),即電壓值Vsum為:



檢測Cp的變化率,可通過比較Vsum和VTH得到。即計算Vsum充到VTH時的充放電次數(shù)n:



當(dāng)手指靠近時,Cp變成電極感應(yīng)電容和手指接近產(chǎn)生的耦合電容之和CF+P,所以Csum充電到閾值VTH的速度更快,充放電周期數(shù)n也就更?。?




這樣,檢測是否有鍵按下就簡化成了檢測周期數(shù)的變化率Δn=n-nF+P。當(dāng)Δn>nTH時,表明有手指靠近。


上一頁 1 2 下一頁

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉