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姿態(tài)角測(cè)試研究

作者: 時(shí)間:2009-03-06 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1 引言
飛行體角的方法有很多種,如磁敏傳感器、高速攝影儀、加速度計(jì)法以及陀螺儀等。各種方法都有其優(yōu)點(diǎn)及應(yīng)用局限,適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)合。某小型飛行體飛行過(guò)程中所受過(guò)載較小,角變化不大,可容納儀的空間有限,針對(duì)該小型飛行器,提出了一種基于陀螺儀的姿態(tài)角存儲(chǔ)測(cè)試方法,介紹了具體實(shí)現(xiàn)方案。

2 姿態(tài)角測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
磁敏傳感器法通常只是作為一種輔助測(cè)試手段,高速攝影法易受天氣影響也限制了它的應(yīng)用。加速度計(jì)法有著低成本、低功耗、高可靠性等優(yōu)點(diǎn),但是理論計(jì)算及安裝復(fù)雜限制了該方法的應(yīng)用,在國(guó)內(nèi)多以理論為主。而陀螺儀法在過(guò)載不太大的場(chǎng)合應(yīng)用方便,成為此飛行器姿態(tài)角測(cè)試的一個(gè)很好的選擇。飛行體的姿態(tài)運(yùn)動(dòng)是飛行體繞自身質(zhì)心的轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)。在引入剛體假設(shè)和坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換的概念后,飛行體的姿態(tài)定義為飛行體坐標(biāo)系相對(duì)于參考坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)變換。
2.1 陀螺儀姿態(tài)角測(cè)試原理
在對(duì)剛體的轉(zhuǎn)動(dòng)運(yùn)動(dòng)進(jìn)行解析描述時(shí).常應(yīng)用歐拉角或卡爾丹角??柕そ沁m用于姿態(tài)角變化較小的場(chǎng)合,因此.用卡爾丹角進(jìn)行描述。取初始時(shí)刻飛行體坐標(biāo)系Oξηζ為固定坐標(biāo)系,0xyz為與飛行體固結(jié)的動(dòng)坐標(biāo)系??柕そ沁x取的方法是,首先繞ξ軸轉(zhuǎn)過(guò)α角,到達(dá)0x1y1zl的位置;再繞y1軸轉(zhuǎn)動(dòng)β角,到達(dá)0x2y2z2的位置;再繞z2軸轉(zhuǎn)動(dòng)γ角,到達(dá)0xyz的位置。轉(zhuǎn)動(dòng)關(guān)系如圖l所示。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/163928.htm

α、β以及γ分別為沿0ξ軸、0y1軸與0z軸的角速度分量,三次轉(zhuǎn)動(dòng)如式(1)所示:

在此,以cx表示cosx、sx表示sinx,正切以tgx表示。各次轉(zhuǎn)動(dòng)相應(yīng)的方向余弦矩陣分別為


飛行體的角速度ω,可以表示為:


式(7)為卡爾丹角表示的運(yùn)動(dòng)學(xué)微分方程,其中ωx、ωy及ωz分別為陀螺x軸、y軸及z軸的輸出。積分此式,可得卡爾丹角。
2.2 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)
存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)之后,設(shè)計(jì)了存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)。體積微小和測(cè)量時(shí)不需要引線即不需要對(duì)外界的電磁輻射是他的最突出特點(diǎn)。在動(dòng)態(tài)參數(shù)的存儲(chǔ)測(cè)試領(lǐng)域,測(cè)試儀要隨被測(cè)體一起運(yùn)動(dòng),要求測(cè)試系統(tǒng)具有體積小、功耗低及抗高過(guò)載等特點(diǎn),下面將結(jié)合系統(tǒng)設(shè)計(jì)闡述這些要求的相應(yīng)解決措施。
主控器件能否正常工作,是整個(gè)系統(tǒng)能否可靠獲得被測(cè)參數(shù)的關(guān)鍵。CPLD輸入和輸出引腳的原始電平可預(yù)先設(shè)定,開(kāi)機(jī)即能達(dá)到預(yù)定電平,狀態(tài)明確。信號(hào)傳輸效率高,適合高速采樣場(chǎng)合??删幊踢壿嫼陠卧蜻壿媺K之間的相互連線在同一封裝內(nèi),受外界干擾影響小,電磁兼容(EMC)性能好。綜上所述,CPLD具有邏輯性強(qiáng)、響應(yīng)時(shí)間快、程序不易跑飛等特點(diǎn)。為此選用CPLD作為主控器件,設(shè)計(jì)盡量簡(jiǎn)單可靠的器件內(nèi)部邏輯,以確保整個(gè)測(cè)試過(guò)程系統(tǒng)的正常工作。本系統(tǒng)存儲(chǔ)容量為512 Kxl2 bit,負(fù)延遲為128 Kxl2 bit,采樣頻率為8 kHz。測(cè)試系統(tǒng)原理框圖如圖2所示。


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