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電壓法LED結(jié)溫測量原理及熱阻測試

作者: 時間:2012-03-07 來源:網(wǎng)絡 收藏

  大功率 封裝都帶基板,絕大部分熱從基板通過散熱板散發(fā), 熱阻主要是指 芯片到基板的熱阻。與 Rjc 的情況更加接近。見圖三

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/168334.htm

  圖三

  二、幾款儀器性能介紹

  目前用于 LED 熱性能的設備是參照EIA/JESD 51標準的要求進行設計的。典型的設備有:Mic ReD 公司的T3Ster®;AnaTech 公司的Phase10 Thermal Analyzer; TEA 公司的different TTS systems 等。由于 LED 熱性的進口設備價格昂貴,使用 復雜,目前國內(nèi)只有很少的單位配備了進口設備。目前國產(chǎn)設備和進口設備相比,綜合技術(shù)指標方面有一定差距,尤其是分析軟件方面差距較大。但是由于 LED 芯片體積較大, 測試要求和集成電路 的測試要求有很大不同,大部指標已經(jīng)可以完全滿足測試要求。在價格方面國產(chǎn)設備有很大競爭優(yōu)勢,設計要求也以 LED 測試為主,使用方便,有利 LED 熱 性能測試的廣泛使用。


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