大功率白光LED的應(yīng)用及其可靠性研究
1 簡介
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/168887.htm半導(dǎo)體照明是21世紀(jì)最具發(fā)展前景的高技術(shù)領(lǐng)域之一,上世紀(jì)九十年代以來,隨著以GaN和SiC為代表的第三代半導(dǎo)體的興起,藍(lán)色和白色發(fā)光二極管相繼研究成功,使實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體白光LED照明成為可能。大功率白光LED作為半導(dǎo)體光源,相比傳統(tǒng)照明光源,有節(jié)能、壽命長、綠色環(huán)保、使用電壓低、開光時(shí)間短等特點(diǎn)。大功率白光LED技術(shù)迅速發(fā)展,有著極為廣闊的應(yīng)用前景,而器件的可靠性是實(shí)現(xiàn)其廣泛應(yīng)用的保證。
大功率白光LED主要用在照明市場,需根據(jù)不同的要求專門設(shè)計(jì)產(chǎn)品。主要可以歸納為在以下幾個(gè)方面的應(yīng)用:
?。?)景觀照明市場:包括建筑裝飾、室內(nèi)裝飾、旅游景點(diǎn)裝飾等,主要用于重要建筑、街道、商業(yè)中心、名勝古跡、橋梁、社區(qū)、庭院、草坪、家居、休閑娛樂場所的裝飾照明,以及集裝飾與廣告為一體的商業(yè)照明。
?。?)汽車市場:車用市場是LED運(yùn)用發(fā)展最快的市場,主要用于車內(nèi)儀表盤、空調(diào)、音響等指示燈及內(nèi)部閱讀燈,車外的第三剎車燈、尾燈、轉(zhuǎn)向燈、側(cè)燈等。
?。?)背光源市場:LED作為背光源已經(jīng)普遍運(yùn)用于手機(jī)、電腦、便攜式電子產(chǎn)品等。
?。?)戶外大屏幕顯示和交通信號(hào)燈。由于LED具有亮度高、壽命長、省電等優(yōu)點(diǎn),在金融、證券、交通、機(jī)場等領(lǐng)域備受青睞。尤其是在全球各大型體育館幾乎已經(jīng)成為標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。
?。?)特殊照明和軍事運(yùn)用:由于LED光源具有抗震性、耐潮性、密封性等特點(diǎn),以及熱輻射低、體積小、重量輕等優(yōu)點(diǎn),可以廣泛應(yīng)用于防爆、野外作業(yè)、礦山、軍事行動(dòng)等特殊工作場所或惡劣的工作環(huán)境中。
?。?)其他應(yīng)用:還可應(yīng)用在玩具、禮品、手電筒、圣誕燈等輕工業(yè)產(chǎn)品之中。作為全球輕工業(yè)產(chǎn)品的重要生產(chǎn)基地,我國對(duì)LED有著巨大的市場需求。
由于大功率LED應(yīng)用已經(jīng)廣泛開展,半導(dǎo)體照明材料的突出優(yōu)點(diǎn):節(jié)能,綠色環(huán)保,高效,壽命長,后期維護(hù)成本低廉,相比較傳統(tǒng)的光源有著十分誘人的特點(diǎn),但在實(shí)際的應(yīng)用過程中,LED的性能并沒有像人們預(yù)期的那樣表現(xiàn)出來,而是出現(xiàn)了各種各樣的問題。比如說,壽命長這一突出特點(diǎn),理論估計(jì)為十萬小時(shí),但在實(shí)際的使用條件下,才有幾千小時(shí)。因此,大功率白光LED要想得到長遠(yuǎn)的發(fā)展,并且最終能夠替代傳統(tǒng)光源,其可靠性的研究是必須且緊迫的。
通常LED可靠性研究大致可以分為兩個(gè)方向:
3.1 基于半導(dǎo)體物理學(xué)的失效機(jī)理分析
半導(dǎo)體器件的可靠性分析大都是圍繞其壽命來表征的,因此大都是壽命試驗(yàn)與失效機(jī)理分析相結(jié)合來進(jìn)行的。由于LED的理論壽命長達(dá)十萬小時(shí),通常一般的壽命試驗(yàn)需要很長的時(shí)間,當(dāng)試驗(yàn)結(jié)束了,所選用的產(chǎn)品也該荒廢了。對(duì)于壽命較長的LED器件,要根據(jù)條件選用加速壽命實(shí)驗(yàn)。加速壽命試驗(yàn)按方法分為:恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn),步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)和序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)。恒定應(yīng)力加速試驗(yàn)操作和控制相對(duì)簡單,技術(shù)已比較成熟,外推數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,由此得到的壽命可靠,缺點(diǎn)是仍然比較費(fèi)時(shí)。步進(jìn)應(yīng)力加速試驗(yàn)現(xiàn)在是研究的熱點(diǎn),能夠減短試驗(yàn)時(shí)間,降低對(duì)試樣數(shù)量的要求,具有比恒定應(yīng)力試驗(yàn)更高的加速效率,但目前多用在前期應(yīng)力范圍的確定中,如金玲在GaAs紅外發(fā)光二極管加速壽命試驗(yàn),到電流步進(jìn)摸底試驗(yàn)來摸清試驗(yàn)器件所能承受的最高電流應(yīng)力。序進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)中應(yīng)力隨時(shí)間不斷上升,可以更快地激發(fā)器件失效,從而進(jìn)一步提高了加速壽命試驗(yàn)的效率。但由于外加應(yīng)力難以精確控制,在試驗(yàn)過程中容易引起失效機(jī)理的改變,因此并不常用。LED器件多是電流驅(qū)動(dòng),并且受溫度影響顯著,因此常選用電流和溫度作為應(yīng)力。加速試驗(yàn)是進(jìn)行可靠性分析的有效手段,但是必須保證器件的失效機(jī)理在整個(gè)試驗(yàn)過程中不發(fā)生改變。
評(píng)論