測試數(shù)據(jù)與結(jié)果
所有測試數(shù)據(jù)均來自EVAL-AD5755SDZ、EVAL-SDP-CB1Z和ADP2300-EVALZ板。使用ADP2300的系統(tǒng)積分非線性(INL)、差分非線性(DNL)和總非調(diào)整誤差(TUE)分別見圖5、圖6和圖7。AD5755升壓調(diào)節(jié)器在所有測量過程中均處于工作狀態(tài)。
該系統(tǒng)的完整文檔位于CN0198設計支持包中。
圖5. 電壓輸出的INL
圖6. 電壓輸出的DNL
圖7. 電壓輸出的TUE
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