基于S3C2440的測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源設(shè)計

摘要：通過對所需求電源的分析，結(jié)合嵌入式控制技術(shù)，提出了一種基于S3C2440的測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源解決方案，以及實現(xiàn)該方案所采用的方法。該系統(tǒng)基于ARM控制技術(shù)，對數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣，運(yùn)用適當(dāng)?shù)乃惴ㄟM(jìn)行電壓調(diào)節(jié)和電路保護(hù)，以達(dá)到為測試系統(tǒng)提供穩(wěn)壓電源的目的。設(shè)計的系統(tǒng)經(jīng)過實際應(yīng)用，所提供的電源穩(wěn)定可靠，滿足芯片測試所需電源的要求。在此給出了系統(tǒng)的硬件構(gòu)架和軟件設(shè)計流程圖。
關(guān)鍵詞：S3C2440；測試系統(tǒng)；穩(wěn)壓電源；ARM

0 引言
直流穩(wěn)壓電源是一種比較常見的電子設(shè)備，一直被廣泛地應(yīng)用在電子電路、實驗教學(xué)、科學(xué)研究等諸多領(lǐng)域。近年來，嵌入式技術(shù)發(fā)展極為迅速，出現(xiàn)了以單片機(jī)、嵌入式ARM為核心的高集成度處理器，并在自動化、通信等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。電源行業(yè)也開始采用內(nèi)部集成資源豐富的嵌入式控制器來實現(xiàn)數(shù)字穩(wěn)壓電源的控制系統(tǒng)。數(shù)字穩(wěn)壓電源是用脈寬調(diào)制波(PWM)來控制MOS管等開關(guān)器件的開通和關(guān)閉，從而實現(xiàn)電壓電流的穩(wěn)定輸出。數(shù)字穩(wěn)壓電源還具備自診斷功能，能實現(xiàn)過壓過流保護(hù)、故障警告等。
相比之前的模擬電源，數(shù)字穩(wěn)壓電源大大減少了在模擬電源中常見的誤差、老化、溫度漂移、非線性不易補(bǔ)償?shù)戎T多問題，提高了電源的靈活性和適應(yīng)性。將SAMSUNG公司的嵌入式ARM處理器S3C2440芯片應(yīng)用到實驗室測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源的設(shè)計中，采用C語言和匯編語言，實現(xiàn)一種以嵌入式ARM處理器為核心，具備PID控制器以及觸摸屏等功能的測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源控制系統(tǒng)。

1 測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源組成及工作原理
數(shù)字穩(wěn)壓電源由主控制器、PWM穩(wěn)壓電路、電壓電流取樣電路、PID控制器、觸摸屏組成，系統(tǒng)原理框圖如圖1所示。

本電源對輸出的電壓電流信號進(jìn)行采樣，進(jìn)行PID控制，最后輸出PWM驅(qū)動波形調(diào)節(jié)輸出電壓。輸出電壓提供給芯片測試平臺，供其測試芯片時使用。
前端交流電源輸入到整流模塊，經(jīng)整流濾波后輸出平穩(wěn)的直流電壓。該直流電壓直接輸出至IGBT模塊。高精度A／D轉(zhuǎn)換器將后端輸出的電壓電流信號由模擬信號量變?yōu)閿?shù)字量供給S3C2440進(jìn)行數(shù)字PID運(yùn)算，經(jīng)過PID控制器運(yùn)算后，由S3C2440輸出PWM至IGBT，從而構(gòu)成一個閉環(huán)控制系統(tǒng)，控制電壓電流穩(wěn)定輸出，從而實現(xiàn)數(shù)字穩(wěn)壓電源設(shè)計，提供給芯片測試系統(tǒng)使用。ARM控制器通過觸摸屏實現(xiàn)人機(jī)交互界面，在觸摸屏上設(shè)置參數(shù)和顯示信息。

2 硬件設(shè)計
2．1 ARM控制系統(tǒng)組成
鑒于PID運(yùn)算和PWM波輸出模塊要求高，通過考查，選擇SAMSUNG公司的S3C2440，這是一款32位基于ARM920T內(nèi)核的CPU，擁有高達(dá)400MHz的頻率，完全能滿足PID控制器運(yùn)算的實時性要求；16位的定時器，可實現(xiàn)精度高達(dá)0．03μs的PWM脈沖波，并且有防死區(qū)功能；24個外部中斷源，完全可以滿足對系統(tǒng)外部故障信息進(jìn)行實時響應(yīng)；內(nèi)部嵌入LCD控制器，并擁有DMA通道，使得電壓電流值能夠?qū)崟r顯示在LCD上，還可以通過觸摸屏設(shè)計一些所需的參數(shù)；多達(dá)140個通用I／O口，可以方便地擴(kuò)展外部接口和設(shè)備；擁有8通道多路復(fù)用ADC，10位的數(shù)字編碼，高達(dá)500 kSPS轉(zhuǎn)換率，滿足了測試系統(tǒng)所需的A／D轉(zhuǎn)換精度。