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低壓?jiǎn)伍撝甸_關(guān)電荷泵實(shí)現(xiàn)方案

作者: 時(shí)間:2011-09-28 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1.2 傳統(tǒng)的兩閾值泵的仿真結(jié)果和問題分析

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/178572.htm

  將傳統(tǒng)的兩閾值泵在TSMC 0.35μm的CMOS工藝上,我們假設(shè)VP為7V,工作電壓為3.3V仿真結(jié)果如圖2所示。

  

  此時(shí)在40μs的時(shí)間,VBL上升到5.423V,編程電壓VP出現(xiàn)1.577V的電壓損失,此時(shí)內(nèi)部高壓結(jié)點(diǎn)電壓已經(jīng)達(dá)到9.681V。根據(jù)實(shí)際的仿真,兩閾值泵至少工作在VDD=5V下才能將VP完全傳遞到編程結(jié)點(diǎn)。如果外加VDD小于4V時(shí),在某個(gè)周期里結(jié)點(diǎn)2抬升的電壓已經(jīng)無(wú)法維持兩個(gè)閾值損失,傳送的編程電壓不再繼續(xù)抬升而出現(xiàn)損失。并且在4V的VDD下,結(jié)點(diǎn)2的電壓峰值達(dá)到10.5V,超過柵氧擊穿電壓10V的限制。

  2 電荷泵的設(shè)計(jì)和仿真分析

  兩閾值電荷泵存在兩個(gè)問題,根本原因是管子的體效應(yīng)不斷增加,導(dǎo)致傳送的編程電壓出現(xiàn)閾值損失,同時(shí)造成內(nèi)部高壓結(jié)點(diǎn)電壓過高。本文設(shè)計(jì)的電荷泵的結(jié)點(diǎn)電壓峰值只需要高于編程電壓一個(gè)閾值,編程電壓就能完全傳遞到編程結(jié)點(diǎn),使以上的兩個(gè)問題都得到解決。圖3是電荷泵的原理分析圖。

  

單閾值電荷泵的原理分析圖

  外加編程電壓VP,結(jié)點(diǎn)2直接被拉到V2o=VP-VTH1,初始時(shí)ctrl端為0,N4管關(guān)斷,結(jié)點(diǎn)4抬高,P2管關(guān)斷,此時(shí)結(jié)點(diǎn)6為VDO,N5管開啟,因此結(jié)點(diǎn)3被拉低,N2管關(guān)斷,同時(shí)N3打開編程結(jié)點(diǎn)7被拉到地。當(dāng)Ctrl為高,clock為固定周期的方波信號(hào)時(shí),電荷泵開始工作,此時(shí)結(jié)點(diǎn)4被拉低,P2管導(dǎo)通,同時(shí)結(jié)點(diǎn)6為低,N5管關(guān)斷,因此結(jié)點(diǎn)3的電壓等于結(jié)點(diǎn)2的電壓,同時(shí)N3管關(guān)斷,編程結(jié)點(diǎn)被釋放出來(lái)。第一個(gè)周期結(jié)點(diǎn)5從0變化到VDD時(shí),令結(jié)點(diǎn)2的寄生電容為CS,結(jié)點(diǎn)2的電壓被拉到

  V21=VDD×C1/(C1+CS)+VP-VTH1 (8)

  當(dāng)結(jié)點(diǎn)5從VDD到0時(shí),結(jié)點(diǎn)2的電壓又被拉到V2o=VP-VTH1。在編程過程中結(jié)點(diǎn)2的電壓一直在兩個(gè)電壓內(nèi)來(lái)回跳變,即結(jié)點(diǎn)3的電壓也在兩個(gè)電壓之間來(lái)回跳變。要使編程電壓VP完全傳遞到編程結(jié)點(diǎn),結(jié)點(diǎn)3的最大電壓至少大于編程電壓VP一個(gè)閾值電壓,即

  V2PEAKmax=V3PEAK≥VP+VTH2 (9)

  從上面公式可知,該電荷泵結(jié)點(diǎn)2電壓峰值只需要比編程電壓提高一個(gè)閾值電壓,這基本解決了兩閾值電荷泵的第二個(gè)問題,同時(shí)峰值電壓降低一個(gè)閾值電壓N1,N2的體效應(yīng)相對(duì)兩閾值電荷泵更低,第一個(gè)問題也得到了一定程度上的優(yōu)化。

  在編程電壓為7V,工作電壓為3.3V時(shí)單閾值電荷泵的仿真結(jié)果如圖4所示。

  

  仿真結(jié)果顯示,該電路的峰值電壓只高于編程電壓1.593V,此時(shí)7V的編程電壓可以完全傳到編程結(jié)點(diǎn)。

  3 結(jié)束語(yǔ)

  本文設(shè)計(jì)的應(yīng)用于亞微米或者深亞微米的只讀存儲(chǔ)器的單閾值電荷泵解決了兩閾值電荷泵產(chǎn)生的內(nèi)部高壓結(jié)點(diǎn)的威脅,同時(shí)也在改善了因體效應(yīng)變化使編程電壓出現(xiàn)傳輸損失的問題。電路結(jié)構(gòu)在臺(tái)積電0.35微米的工藝得到仿真驗(yàn)證。


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