新聞中心

EEPW首頁(yè) > 電源與新能源 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一種電子系統(tǒng)認(rèn)證芯片的電源規(guī)劃

一種電子系統(tǒng)認(rèn)證芯片的電源規(guī)劃

作者: 時(shí)間:2011-05-10 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

接著進(jìn)行橫向條的設(shè)計(jì)。選用高層金屬M(fèi)eta15作為橫向條,寬度取為5.04μm,由上述公式可得,所需橫向條的總寬度為87.424 μm。但是,實(shí)際上并不需要這么多電源條,因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)單元的電源/地都通過Metal1連接到內(nèi)核的兩端,并且與縱向電源條相連。該設(shè)計(jì)共有標(biāo)準(zhǔn)單元行(Row)312行,每行有1對(duì)0.4μm的橫向電源條,相當(dāng)于有312×0.4=124.8μm的電源條,大于所需的橫向電源條總寬度,已經(jīng)足夠供應(yīng)整個(gè),使水平方向的電壓降小于VDD×5%=0.09 V。
為了使水平方向的電壓降更小,設(shè)計(jì)了3對(duì)寬度為5.04 μm的Metal5層橫向電源條,均勻分布在內(nèi)核區(qū)域。電源條的設(shè)計(jì)結(jié)果如圖4所示。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/179135.htm

b.JPG


經(jīng)過后續(xù)物理設(shè)計(jì)后,在滿足時(shí)序收斂的前提下,最終詳細(xì)布線后電源網(wǎng)絡(luò)VDD功耗分析的結(jié)果如表2所示,可看出,電源的設(shè)計(jì)很好地改善芯片內(nèi)部的IR Drop,最終芯片內(nèi)部不存在IR Drop的違規(guī),滿足了功耗要求,如圖5所示。

o.JPG



3 結(jié)語(yǔ)
本文主要討論了基于RSA算法的電統(tǒng)芯片的電源?;赟MIC 0.18μm工藝,首先對(duì)該芯片進(jìn)行預(yù)設(shè)計(jì),通過對(duì)預(yù)設(shè)計(jì)進(jìn)行功耗預(yù)估和布線擁塞程度的分析結(jié)果,在正式設(shè)計(jì)時(shí)提高了芯片利用率,減小了芯片的面積;并且通過詳細(xì)的電源(包括雙層電源環(huán)和電源條的設(shè)計(jì)等)消除了預(yù)設(shè)計(jì)時(shí)存在的電壓降違規(guī),使該電統(tǒng)芯片最終滿足功耗要求和時(shí)序收斂。


上一頁(yè) 1 2 3 4 下一頁(yè)

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉