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功率MOSFET并聯(lián)均流問題研究

作者: 時(shí)間:2005-09-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
摘要:對頻率為MHz級(jí)情況下并聯(lián)均流進(jìn)行了,詳細(xì)分析了影響并聯(lián)均流諸因素。通過Q軌跡把器件參數(shù)和外圍電路聯(lián)系起來,得出較大的Q值和適當(dāng)?shù)腖s/Lx有利于并聯(lián)均流。大量的仿真和小實(shí)驗(yàn)結(jié)果均表明該方法的正確性。

關(guān)鍵詞:功率S;多管并聯(lián);高頻;Q軌跡

引言

隨著電力電子技術(shù)的迅速發(fā)展,功率MOSFET以其高頻性能好、開關(guān)損耗小、輸入阻抗高、驅(qū)動(dòng)功率小、驅(qū)動(dòng)電路簡單等優(yōu)點(diǎn)在高頻感應(yīng)加熱電源中得到了廣泛的應(yīng)用。但是,功率MOSFET容量的有限也成了亟待解決的。從理論上講,功率MOSFET的擴(kuò)容可以通過串聯(lián)和并聯(lián)兩種方法來實(shí)現(xiàn),實(shí)際使用中考慮到其導(dǎo)通電阻RDS(on)具有正溫度系數(shù)的特點(diǎn),多采用多管并聯(lián)來增加其功率傳導(dǎo)能力。

1 影響功率MOSFET并聯(lián)均流的因素

在功率MOSFET多管并聯(lián)時(shí),器件內(nèi)部參數(shù)的微小差異就會(huì)引起并聯(lián)各支路電流的不平衡而導(dǎo)致單管過流損壞,嚴(yán)重情況下會(huì)破壞整個(gè)逆變裝置。影響并聯(lián)均流的因素包括內(nèi)部參數(shù)和外圍線路參數(shù)。

1.1 內(nèi)部參數(shù)對并聯(lián)均流的影響

影響功率MOSFET并聯(lián)均流的內(nèi)部參數(shù)主要有閾值電壓VTH、導(dǎo)通電阻RDS(on)、極間電容、跨導(dǎo)gm等。內(nèi)部參數(shù)差異會(huì)引起動(dòng)態(tài)和靜態(tài)不均流。因此,要盡量選取同型號(hào)、同批次并且內(nèi)部參數(shù)分散性較小的MOSFET加以并聯(lián)。

1.2 外圍線路參數(shù)對并聯(lián)特性的影響

MOSFET并聯(lián)應(yīng)用時(shí),除內(nèi)部參數(shù)外,電路布局也是一個(gè)關(guān)鍵性的。在頻率高達(dá)MHz級(jí)情況下,線路雜散電感的影響不容忽視,引線所處電路位置的不同以及長度的很小變化都會(huì)影響并聯(lián)開關(guān)器件的性能。影響功率MOSFET并聯(lián)均流的外電路[2]參數(shù)主要包括:柵極去耦電阻Rg、柵極引線電感Lg、源極引線電感Ls、漏極引線電感Ld等。在多管并聯(lián)時(shí)一定要盡量使并聯(lián)各支路的Rg及對應(yīng)的各引線長度相同。

圖2

2 Q值對并聯(lián)均流的影響

在此引入Q軌跡[3]把器件內(nèi)部參數(shù)同其外圍線路聯(lián)系起來,分析線路中各種寄生因素對并聯(lián)均流的影響。當(dāng)N個(gè)功率MOSFET并聯(lián)工作時(shí),假設(shè)各支路的Rg完全相同,柵漏源極連線長度也各自相同。定義Q值如式(1)。

Q=IGLx (1)

式中:IG為工作區(qū)內(nèi)的平均柵極電流;

Lx=Lss1+Lss2+Ld/N其中Lss1及Lss2為外圍線路電感。

2.1 Q值對器件工作狀態(tài)的影響

不同Q值下IRF150開通和關(guān)斷時(shí)漏電流iD和漏源電壓vDS曲線如圖1中實(shí)線所示。而在Q=Q2,Ls/Lx不同時(shí),器件開關(guān)時(shí)iD與vDS波形如圖1中虛線所示。

從圖1中實(shí)線可以看出,Q值越大,換向時(shí)間越短,開通損耗越低但關(guān)斷損耗增大;從圖1中虛線可以看出在線路中引入源極電感,器件的開關(guān)軌跡發(fā)生很大變化,開通損耗增加而關(guān)斷損耗減小。在高頻情況下,器件的開關(guān)時(shí)間和開關(guān)損耗對整個(gè)系統(tǒng)效率的提高至關(guān)重要。從上面的分析可知器件理想的工作條件應(yīng)該是在相對較高的Q值下。以下基于不同Q值,通過仿真軟件PSPICE分析外圍線路中各種寄生參數(shù)對并聯(lián)均流的影響。

圖3

2.2 Q值對雙管并聯(lián)均流影響的仿真分析

雙管并聯(lián)電路如圖2所示。選用APT公司生產(chǎn)的APT6013LLL做為開關(guān)器件,其最高耐壓為600V,最大連續(xù)漏電流為43A,輸入電容Ciss=5696pF,td(on)=11ns,tr=14ns,td(off)=27ns,tf=8ns,閾值電壓平均值為4V;驅(qū)動(dòng)信號(hào)vgs是幅值為15V頻率為1MHz,占空比為50%的方波信號(hào);外接直流電源VDD=100V;負(fù)載R為2Ω的無感電阻;D為續(xù)流二極管;Lg1=Lg2=Lg,Ld1=Ld2=Ld,Ls1=Ls2=Ls,分別為柵漏源極引線電感,Rg1=Rg2=Rg是柵極去耦電阻??紤]到實(shí)驗(yàn)中多用短而粗的雙股絞線來減小線路寄生電感,所以,仿真時(shí)定義電路中的寄生電感Ld=Lg=Ls=10nH,負(fù)載寄生電感L=100nH。

仿真情況如下。

1)閾值電壓Vth相差0.7V,Rg=5Ω和Rg=10Ω(即Q1Q2),其它參數(shù)均一致情況下,并聯(lián)兩管的漏電流iD波形如圖3所示。

從圖3可以看出,并聯(lián)兩管的閾值電壓不同會(huì)引起兩管不均流,Q值較大時(shí)均流特性比較好。

2)閾值電壓Vth相差0.7V,Rg=5Ω,Ls分別為22.5nH和5nH,其它參數(shù)均一致情況下,漏電流iD波形如圖4所示。

從圖4可以看出,引入源極電感Ls,并聯(lián)不均流得到改善,但Ls越大器件關(guān)斷時(shí)間越長。在設(shè)計(jì)中,并聯(lián)器件源極電感保持一致是必須的,尋找最優(yōu)的Ls(即Ls/Lx)使得并聯(lián)均流特性最好。表1為閾值電壓Vth相差10%,其它參數(shù)均一致情況下,分別取不同Q和Ls/Lx,器件開通和關(guān)斷過程中電流不均衡的仿真分析結(jié)果。其中Δi=iD1-iD2,為并聯(lián)兩管漏電流相差最大處的差值。

由表1可以看出,當(dāng)Ls/Lx=25%,Q=Q2時(shí),開通和關(guān)斷過程器件的均流特性相對最好。

表1 內(nèi)部特性參數(shù)不一致下,Q和Ls/Lx不同對器件動(dòng)態(tài)電流分布的影響

(Ls/Lx)/%

導(dǎo)通期間Δi/A

開通過程Δi/A

關(guān)斷過程Δi/A

Q1

Q2

Q1

Q2

Q1

Q2

5

1.33

1.01

3.88

2.75

7.26

5.93

10

1.25

0.81

3.01

1.99

6.48

5.33

25

1.16

0.67

2.56

1.44

4.52

3.65

30

1.34

0.84

2.63

1.64

4.61

3.88

3 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證

實(shí)驗(yàn)線路同圖2,線路布局完全對稱,實(shí)驗(yàn)采用IRFP450做為開關(guān)管,其基本特性參數(shù):VDSS=500V,RDS(on)=0.4Ω,iD=14A,Crss=340pF,Ciss=2600pF,直流電壓是經(jīng)過三相整流輸出的VDD=95V,R1=50Ω,驅(qū)動(dòng)電壓幅值為15V,占空比為65%頻率約為1MHz。

實(shí)驗(yàn)情況如下。

1)Rg=8.5Ω,未采取任何均流措施情況下,隨機(jī)取兩個(gè)MOSFET并聯(lián)運(yùn)行時(shí),漏極電流iD波形如圖5所示。

從圖5可以看出,在同一驅(qū)動(dòng)信號(hào)作用下,由于并聯(lián)兩管內(nèi)部參數(shù)存在差異,導(dǎo)致了電流的不均衡和開關(guān)時(shí)間的不同時(shí),使兩管承受的通斷損耗也出現(xiàn)較大差異,極有可能會(huì)造成開關(guān)過程中單管負(fù)擔(dān)過重,以致電流過載而燒損。

2)使Rg=10.0Ω,其它條件不變,漏極電流iD波形如圖6所示。

調(diào)節(jié)柵極去耦電阻RG相當(dāng)于調(diào)節(jié)柵極平均電流IG的大小。由圖6可知,增大RG引起功率MOSFET輸入電容的充、放電速度減慢,加劇了兩管并聯(lián)應(yīng)用時(shí)動(dòng)態(tài)電流的不均衡。因此,在保證柵極去耦的前提下,Rg應(yīng)盡可能地小。

3)Rg=8.5Ω,適當(dāng)增大Ls,且使Ls1=Ls2時(shí),漏極電流iD波形如圖7所示。

由圖7可知,引入適當(dāng)大小的源極電感,當(dāng)電流突變時(shí),在電感上會(huì)引起附加的di/dt,它能夠通過調(diào)整器件的柵極電壓阻止動(dòng)態(tài)電流的進(jìn)一步不均衡,大大改善了并聯(lián)兩管的動(dòng)態(tài)均流特性。然而,這種方法增加了器件開關(guān)時(shí)的損耗,而且源極電感過大會(huì)引起器件的開關(guān)時(shí)間過長而不利于高頻使用。因此,多管并聯(lián)時(shí)可以引入適當(dāng)?shù)脑礃O電感,又不宜太大。

4 結(jié)語

當(dāng)功率MOSFET多管并聯(lián)時(shí),最根本的方法是選用內(nèi)部參數(shù)完全一致的進(jìn)行并聯(lián),通過緊密布局和器件的對稱布局來減少雜散電感,消除寄生振蕩。在實(shí)際使用中為了最大限度地獲得并聯(lián)均流,應(yīng)該從以下幾方面考慮:

1)選用同型號(hào)同批次的器件加以并聯(lián);

2)使用同一個(gè)驅(qū)動(dòng)源和獨(dú)立的柵極電阻消除寄生振蕩;

3)電路布局對稱并盡可能緊湊,連線長度相同且減短加粗并使用雙股絞線;

4)適當(dāng)增大Q值和選取適當(dāng)大小的Ls/Lx,通過匹配外圍電路最大限度地獲得并聯(lián)均流結(jié)果。



關(guān)鍵詞: 研究 問題 MOSFET 功率

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