新聞中心

EEPW首頁(yè) > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > Multisim 10在模電教學(xué)中的應(yīng)用

Multisim 10在模電教學(xué)中的應(yīng)用

作者: 時(shí)間:2012-04-05 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

2.2 將開(kāi)關(guān)K和上,引入電壓串聯(lián)負(fù)反饋
2.2.1 負(fù)反饋能減小非線性失真,拓展通頻帶
引入電壓串聯(lián)負(fù)反饋后,同樣可利用失真度分析儀分析出此時(shí)電路失真度為0.040%。可見(jiàn),引入負(fù)反饋后,由于在保持信號(hào)基波成分不變的情況下,降低了諧波成分,所以減小了非線性失真。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/186672.htm

e.JPG


輸出信號(hào)的波特圖如圖6所示。圖中頻帶電壓放大倍數(shù)約為10,下限頻率fL≈10.561Hz≈10.5Hz,上限頻率為fH≈9.998MHz≈10MHz,通頻帶BW=fH-fL≈fH=10 MHz??梢?jiàn),引入負(fù)反饋后,電壓放大倍數(shù)雖然減小了,但通頻帶大大增加了。
2.2.2 參數(shù)掃描分析
參數(shù)掃描分析是將電路參數(shù)設(shè)置在一定范圍內(nèi)變化,以分析參數(shù)變化時(shí)對(duì)電路性能的影響。相當(dāng)于對(duì)電路進(jìn)行多次不同參數(shù)的仿真分析,可快速檢驗(yàn)電路性能。參數(shù)掃描分析可分為3種:直流工作點(diǎn)分析、瞬態(tài)分析和交流頻率分析。這里選用交流頻率分析來(lái)分析當(dāng)電路中的耦合電容C1和旁路電容Ce1大小改變時(shí),對(duì)電路頻率響應(yīng)特性的影響,如圖7~圖9所示。

f.JPG g.JPG


圖7中3條曲線從左到右依次為C1取100μF,30μF,10μF時(shí)對(duì)應(yīng)的放大倍數(shù)幅頻特性曲線。圖中耦合電容C1值越大,則下限頻率越小,頻帶增寬。圖8顯示當(dāng)旁路電容越大,則下限頻率越小,頻帶增寬。并且當(dāng)C1和Ce2取100μF時(shí),從中頻段到低頻段的幅頻特性曲線最接近一個(gè)矩形,低頻響應(yīng)特性最好。圖9說(shuō)明當(dāng)晶體管極間電容Cbc值越小,則上限頻率越大,可獲得良好的高頻響應(yīng)特性。

3 結(jié)語(yǔ)
10仿真軟件能夠有效地仿真電路結(jié)構(gòu)和分析電路的輸出結(jié)果,使的學(xué)習(xí)過(guò)程能夠更加直觀清晰。另外,不需要很大地成本投入也能鍛煉到學(xué)生的動(dòng)手能力,極大地提高了學(xué)生學(xué)習(xí)的主動(dòng)性和學(xué)習(xí)效率,對(duì)學(xué)生的思維創(chuàng)新開(kāi)拓有很大的幫助。


上一頁(yè) 1 2 3 4 下一頁(yè)

關(guān)鍵詞: Multisim 模電 中的應(yīng)用

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉