把1NA~100UA的電流轉(zhuǎn)換成0.1HZ~10KHZ的電流-頻率轉(zhuǎn)

因為C1的微調(diào)很困難，所以允許A2的正反饋略有變化，以此進行振蕩頻率的校驗。，但鋸齒波的振幅會稍有變化。

由于延長了積分電路的時間常數(shù)，可以把微弱電流穩(wěn)定地轉(zhuǎn)換成頻率，這時頻率下降，測量時間加長。

照片A示出輸入端串接1M電阻，輸入+10.00V（IIN=10UA）電壓時的波形，上側(cè)為積分器A1輸出的波形，上升邊因被E4（5.1K）積分，時間約為6US，波形的下降邊線性很好，這是使用了積分器的結(jié)果。下側(cè)是電路輸出端的波形，幅度為+5.6V。

元件的選擇

OP放大器A1的輸入偏流1E、失調(diào)電壓及漂移越小，可轉(zhuǎn)換的電流也越小，所以電路選用了FET輸入OP放大器測試辦法：讓輸入端開路一段時間，以這時的電壓為基準電壓，測量在規(guī)定時間內(nèi)電壓的變化量，求出IB或漏電電流，假如在60秒鐘內(nèi)有1V變化，根據(jù)I=C1*（△EO/△L）公式，可以求出電流I=800*10的負12次方（1/60）≈13PA。

被逆偏置的漏電流如不比輸入電流小得多就會產(chǎn)生誤差，所以TT1不能用普通硅二極管。可用低漏二極管或象本電路所用J-FET。

調(diào)整

沒有電流源時，可在輸入端串聯(lián)大電阻，把電壓轉(zhuǎn)換成電流（IIM=F-IN/R）輸入，用VR1調(diào)節(jié)全量程頻率，如果振蕩頻率大于1KHZ/FS，線性就會變壞。再讓輸入開路，檢查A1輸出的積分值是否改變。