一種改進(jìn)的對抗軟錯誤電路結(jié)構(gòu)設(shè)計

摘要：給出了一種改進(jìn)的基于時鐘沿的自我檢測和糾正的電路結(jié)構(gòu)，以糾正由單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)引起的數(shù)據(jù)錯誤。簡單概述了已有的檢測和糾正SEU的電路結(jié)構(gòu)，并在該電路的基礎(chǔ)上提出了改進(jìn)的電路結(jié)構(gòu)．以實現(xiàn)對觸發(fā)器以及SRAM等存儲器的實時監(jiān)控，并可以及時糾正其由于SEU引起的數(shù)據(jù)錯誤。采用內(nèi)建命令進(jìn)行錯誤注入模擬單粒子翻轉(zhuǎn)對電路的影響。改進(jìn)的電路與原來的電路相比，以微小的面積和較少的資源換取更高的糾錯率。
關(guān)鍵詞：SEU；檢測和糾正；時鐘沿；FPGA；觸發(fā)器

0 引言
在一些電磁環(huán)境比較惡劣的情況下，一些大規(guī)模集成電路常常會受到干擾，導(dǎo)致不能正常工作，特別是儲存單元，使原來存儲的“0”變?yōu)?ldquo;1”，或者“1”變?yōu)?ldquo;0”，即單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)(SEU)。隨著集成電路的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路(VLSI)是必然的發(fā)展趨勢。但是，單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)已經(jīng)嚴(yán)重影響了VLSI的發(fā)展。
由于單粒子翻轉(zhuǎn)對電路穩(wěn)定性的影響，新的電路設(shè)計結(jié)構(gòu)必須減少其對電路穩(wěn)定性的影響。在這些新提出的電路結(jié)構(gòu)中，比較常用的檢查和糾正單粒子翻轉(zhuǎn)的方法是三模冗余(TMR)和軟件錯誤檢測和糾正電路。三模冗余是解決SEU影響的最有效方式，其設(shè)計原理是將要保護(hù)的電路復(fù)制成完全相同的三份，同時運行這三部分電路，并且對該三部分電路的運行結(jié)果進(jìn)行大數(shù)表決，表決出一個置信度高的結(jié)果輸出，同時檢測出那個冗余邏輯塊翻轉(zhuǎn)并進(jìn)行修復(fù)。但它的最大缺點是需要消耗大量的資源，才能實現(xiàn)該電路結(jié)構(gòu)。軟件錯誤檢測和糾正電路的原理是根據(jù)不同的編解碼方式，實現(xiàn)對所存儲數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測和糾正。最常用的海明碼方式，其設(shè)計原理是在存儲的數(shù)據(jù)源碼中加入一些冗余碼，使這些數(shù)據(jù)源碼和數(shù)據(jù)源碼之間建立一定的關(guān)系，一旦數(shù)據(jù)源碼或是冗余碼出現(xiàn)某種錯誤時，數(shù)據(jù)碼和冗余碼之間的關(guān)系被破壞，就形成非法編碼。接收端可以通過檢測數(shù)據(jù)碼和冗余碼來檢測數(shù)據(jù)碼的正確性，并對檢測出來的錯誤數(shù)據(jù)源碼進(jìn)行修改。
近來，一種基于時鐘沿來檢測和糾正單粒子翻轉(zhuǎn)的電路結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)了檢測單元占用更小的面積，使用更少的邏輯單元，實現(xiàn)相近的檢測和糾正率。本文在基于該文提出的檢測和糾錯原理的基礎(chǔ)上，提出了一種新的可以多次檢測和糾正單粒子翻轉(zhuǎn)的電路結(jié)構(gòu)。

1 時鐘沿檢測和糾錯電路原理
1．1 時鐘沿產(chǎn)生原理
基于時鐘沿的檢測和糾正電路原理可知，對于觸發(fā)器來說，只有在時鐘上升沿的時候，輸出數(shù)據(jù)發(fā)生轉(zhuǎn)變才是有效的正確數(shù)據(jù)，而其他任何時刻的變化都是由于外界原因引起的信號錯誤(本文主要是針對SEU引起的錯誤)。該電路結(jié)構(gòu)就是基于上述原理，通過對比數(shù)據(jù)與時鐘的轉(zhuǎn)變沿來對數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測和糾正的，其過程可描述為時鐘沿經(jīng)過3個非門的延時，產(chǎn)生信號not_clk，該信號和時鐘信號相與產(chǎn)生1個上升沿脈沖。
1．2 錯誤檢測和糾正電路
另外一個需要解決的重要問題就是錯誤的檢測和糾正。首先，該文信號的錯誤檢測原理圖如圖1所示。時鐘產(chǎn)生的脈沖與數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)產(chǎn)生的脈沖進(jìn)行比較。比較單元的核心部分可由如下表達(dá)式表述：
SEU_O=Data_pulse×Clk_pulse’ (1)
式中：Data_pulse是數(shù)據(jù)信號經(jīng)過沿檢測電路后的信號；Clk_pulse是時鐘信號經(jīng)過沿檢測電路后的信號。在時鐘上升沿時，Clk_pulse會產(chǎn)生一個正向脈沖，如果此時數(shù)據(jù)發(fā)生翻轉(zhuǎn)，Data_pulse也會產(chǎn)生一個正相脈沖，SEU_O將保持0不變，當(dāng)SEU影響，使數(shù)據(jù)發(fā)生翻轉(zhuǎn)時，Data_pulse會產(chǎn)生一個脈沖，而此時由于不是在時鐘上升沿，信號Clk_pulse將保持為1，此時的輸出信號SEU_O就被置為1。由上述分析可知，當(dāng)沒有SEU錯誤發(fā)生時SEU_O為0；當(dāng)發(fā)生SEU錯誤時SEU_O為1；
該文的錯誤糾正電路原理如圖1所示，該部分電路的核心是運用一個多路輸出選擇器來糾正觸發(fā)器的錯誤輸出信號。多路輸出選擇器的輸入信號為SEU_O，輸出選擇信號為觸發(fā)器的輸出信號，兩個輸出信號分別連接到觸發(fā)器的復(fù)位端和清零端。
由上面的分析可知，檢測到有錯誤發(fā)生時，SEU_O的值為1。此時，如果Q值為1(正確值應(yīng)該為0)，那么就把SEU_O的值1賦給S1，觸發(fā)器被清零，Q被置為0；如果Q值為0(正確值應(yīng)該為1)，那么把SEU_O的值1賦給S0，觸發(fā)器被置1，Q被置為1，從而實現(xiàn)對Q值的糾正；如果沒有錯誤發(fā)生時，SEU_O的值為0，此時不論觸發(fā)器的輸出信號Q為1或0，都不會對Q值產(chǎn)生影響。
為了避免檢測電路把糾正之后的Q值作為SEU引起的錯誤值來進(jìn)行處理和糾正，該電路添加了一個觸發(fā)器，用以鎖存以前的電路狀態(tài)，如圖1所示。信號SEU_O與信號S3，S4，S5有關(guān)，可以由下述表達(dá)式表示：
SEU_O=S4×S3’×S5’ (2)

由原理圖可知，每一個時鐘上升沿到來時就會對觸發(fā)器清零，電路可以對數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測和糾正。若在一個時鐘周期內(nèi)，第1次發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)并被檢測到SEU_O由0變?yōu)?，同時觸發(fā)器被置1，進(jìn)而SEU_O的值又變?yōu)?，糾正后的數(shù)據(jù)產(chǎn)生數(shù)據(jù)沿脈沖不會對SEU_O的值產(chǎn)生影響，從而完成這一次的數(shù)據(jù)檢測和糾正。