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日置(HIOKI)存儲記錄儀MR8875-30應用實例

—— 設備超電導材料接點的微小電壓波形的測量
作者: 時間:2013-11-26 來源:電子產品世界 收藏

  本期為大家介紹升級后的的應用實例。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/192661.htm

  可以長時間記錄外加在設備上的電壓、超電導材料的電壓下降、接點的電壓下降等微小電壓波形。新升級的特別加強了FFT分析功能,對于同時輸入的信號可實現4種現象的分析同時測量,并結合測量環(huán)境通過運算減少誤差,此外更有豐富的窗函數,Running頻譜等一系列新增功能。為廣大用戶更好的解決實際測量問題。

  言歸正傳,此次實測案例的重點是記錄設備的特性評估、超電導材料的評估、接點的電壓下降(接點電阻測量)等μV等級的電壓。而且還需要同時測量溫度和其他電壓。

  簡易接線圖示如下:

  如圖所示,我們通過在MR8875-30 上安裝應變單元MR8903,可測量并記錄微小電壓波形(測試線為非標配產品)可以使用市售電線(指標參數等詳情可來電咨詢)。連接線需自備。保護端子的鱷魚線請和黑色端的鱷魚夾線連接。

  ● 使用儀器

  數據記錄儀:MR8875-30
  應變單元:MR8903(4ch)
  電壓·溫度單元:MR8902(15ch)
  (測量其他的電壓、溫度時,請增加選擇MR8902)



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