安規(guī)測(cè)試基礎(chǔ)問(wèn)題大全

　　Q: 什么是耐壓測(cè)試的容量，要如何計(jì)算?

　　A：耐壓測(cè)試器的容量是指其功率輸出。而耐壓測(cè)試器容量決定于最大的輸出電流x最大輸出電壓。例如：5000Vx100mA=500VA

　　Q：為什么使用AC耐壓測(cè)試與DC耐壓測(cè)試所量測(cè)之漏電流值會(huì)不同?

　　A：被測(cè)物的雜散電容是導(dǎo)致AC與DC耐壓測(cè)試所量測(cè)值不同的主要原因。用AC測(cè)試時(shí)可能無(wú)法充飽這些雜散電容，會(huì)有一個(gè)持續(xù)電流流過(guò)這些雜散電容。而用DC測(cè)試，一旦被測(cè)物上的雜散電容被充飽，剩下的就是被測(cè)物實(shí)際的漏電電流，故使用AC耐壓測(cè)試與DC耐壓測(cè)試所量測(cè)之漏電流值會(huì)有不同 。

　　Q：什么是耐壓測(cè)試之漏電流

　　A：絕緣體是不導(dǎo)電的，但實(shí)際上幾乎沒(méi)有什么一種絕緣材料是絕對(duì)不導(dǎo)電的。任何一種絕緣材料，在其兩端施加電壓，總會(huì)有一定電流通過(guò)，這種電流的有功分量叫做泄漏電流，而這種現(xiàn)象也叫做絕緣體的泄漏。

　　對(duì)于電器的測(cè)試，泄漏電流是指在沒(méi)有故障施加電壓的情況下，電氣中帶相互絕緣的金屬零件之間，或帶電零件與接地零件之間，通過(guò)其周?chē)橘|(zhì)或絕緣表面所形成的電流稱(chēng)為泄漏電流。按照美國(guó)UL標(biāo)準(zhǔn)，泄漏電流是包括電容耦合電流在內(nèi)的，能從家用電器可觸及部分傳導(dǎo)的電流。泄漏電流包括兩部分，一部分是通過(guò)絕緣電阻的傳導(dǎo)電流I1;另一部分是通過(guò)分布電容的位移電流I2，后者容抗為XC=1/2pfc與電源頻率成反比，分布電容電流隨頻率升高而增加，所以泄漏電流隨電源頻率升高而增加。例如：用可控硅供電，其諧波分量使泄漏電流增大。

　　Q：耐壓測(cè)試之漏電流與電源泄漏電流(接觸電流)有何不同?

　　A：耐壓測(cè)試是偵測(cè)流過(guò)被測(cè)物絕緣系統(tǒng)之漏電流，以一高于工作電壓之電壓施加于絕緣系統(tǒng);而電源泄漏電流(接觸電流)則是在被測(cè)物正常操作下，以一最不利的條件(電壓、頻率)對(duì)被測(cè)物量測(cè)漏電流。簡(jiǎn)單地說(shuō)，耐壓測(cè)試之漏電流為無(wú)工作電源下所量測(cè)之漏電流，電源泄漏電流(接觸電流)為正常操作下所量測(cè)之漏電流 。

　　Q：接觸電流的分類(lèi)

　　A：對(duì)于不同結(jié)構(gòu)的電子產(chǎn)品，接觸電流的量測(cè)也是有不同的要求，但總括來(lái)說(shuō)接觸電流可分為對(duì)地接觸電流Ground Leakage Current、表面對(duì)地接觸電流Surface to Line Leakage Current以及表面間接觸電流Surface to Surface Leakage Current測(cè)試三種。

　　Q：為什么要做接觸電流測(cè)試?

　　A：對(duì)于 I 類(lèi)設(shè)備的電子產(chǎn)品可觸及的金屬部件或是外殼還應(yīng)具備良好的接地線路，以作為基本絕緣以外的一種防電擊保護(hù)措施。但是[size=+0]我們也經(jīng)常遇到一些使用者隨意將 I 類(lèi)設(shè)備當(dāng)成 II 類(lèi)設(shè)備使用，或是說(shuō)其 I 類(lèi)設(shè)備電源輸入端直接將接地端 (GND) 拔除，這樣就存在一定的安全隱患。即便如此，作為生產(chǎn)廠商有義務(wù)去避免這種情況對(duì)使用者造成的危險(xiǎn)。這就是為什么要做接觸電流測(cè)試的目的所在。

　　Q：為什么耐壓測(cè)試之漏電電流設(shè)定無(wú)一標(biāo)準(zhǔn)?

　　A：在AC耐壓測(cè)試時(shí)因被測(cè)物種類(lèi)不同，且被測(cè)物內(nèi)都會(huì)有雜散電容存在以及測(cè)試電壓不同就會(huì)有不同的漏電電流故無(wú)一標(biāo)準(zhǔn)。

　　Q：如何決定測(cè)試電壓?

　　A：決定測(cè)試電壓最好的方法就是依據(jù)測(cè)試所需之規(guī)格設(shè)定。一般而言，我們會(huì)依2倍的工作電壓加上1000V作為測(cè)試電壓設(shè)定。例如一產(chǎn)品的工作電壓是115VAC的話，我們就以2 x 115 + 1000 = 1230 Volt作為測(cè)試電壓。當(dāng)然，測(cè)試電壓也會(huì)因絕緣層的等級(jí)之不同而有不同的設(shè)定。

　　Q：Dielectric Voltage Withstand Testing、High Potential Testing、Hipot Testing有什么不同?

　　A：這三個(gè)名詞都是相同的意思，只是在測(cè)試產(chǎn)業(yè)中常交替使用。

　　Q：絕緣阻抗(IR)測(cè)試是什么?

　　A：絕緣電阻測(cè)試和耐壓測(cè)試非常相似。把最高達(dá)1000V的DC電壓施加到需要測(cè)試的兩點(diǎn)。IR測(cè)試給出的通常是以兆歐為單位的電阻值，而不是耐壓測(cè)試得出的Pass / Fail表示。一般典型的是，測(cè)試電壓為500V 直流，絕緣電阻(IR)的值不得低于幾兆歐。絕緣阻抗測(cè)試為非破壞試驗(yàn)，且能偵測(cè)絕緣是否良好，在某些規(guī)范中，是先做絕緣阻抗測(cè)試再進(jìn)行耐壓測(cè)試，而絕緣阻抗測(cè)試無(wú)法通過(guò)時(shí)，往往耐壓測(cè)試也無(wú)法通過(guò)。

　　Q：接地阻抗(Ground Bond)測(cè)試是什么?

　　A：接地連接測(cè)試，有人稱(chēng)之為接地連續(xù)性(Ground Continuity)測(cè)試，測(cè)量在DUT的機(jī)架與接地柱之間的阻抗。接地連接測(cè)試確定，該產(chǎn)品要是壞了的話DUT的保護(hù)電路是否能夠勝任地處理故障電流。接地連接測(cè)試器將產(chǎn)生通過(guò)接地電路的，最大達(dá)到30A的DC電流或AC 均方根值電流(CSA要求量測(cè)40A)，從而確定接地電路的阻抗，其一般在0.1奧姆以下。

　　Q：耐壓測(cè)試與絕緣電阻測(cè)試之間有什么不同呢?

　　A：IR測(cè)試是一種定性測(cè)試，它給出絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。通常用500V或1000V的DC 電壓進(jìn)行測(cè)試，結(jié)果用兆歐電阻來(lái)量測(cè)。耐壓測(cè)試也給被測(cè)物(DUT)施加高壓，但所加電壓比IR 測(cè)試的高。其可以在AC或DC電壓下進(jìn)行。結(jié)果用毫安培或微安來(lái)量測(cè)。在有些規(guī)格中，先進(jìn)行IR測(cè)試，接著再進(jìn)行耐壓測(cè)試。如果一個(gè)被測(cè)物(DUT)無(wú)法通過(guò)IR測(cè)試，則此被測(cè)物(DUT)也無(wú)法通過(guò)在更高的電壓下進(jìn)行的耐壓測(cè)試。

　　Q：為何接地阻抗測(cè)試要有開(kāi)路電壓限制? 為何建議使用交流(AC)電流?

　　A：接地阻抗測(cè)試的目的是要確保當(dāng)設(shè)備產(chǎn)品發(fā)生異常狀況時(shí)，保護(hù)接地線可允許承受故障電流流過(guò)以確保使用者的安全。安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電壓要求開(kāi)路電壓最大值不可以超過(guò) 12V 的限制，即是基于使用者的安全考慮，一旦被測(cè)物發(fā)生測(cè)試故障時(shí)，可以減低操作人員遭受電擊的危險(xiǎn)。而一般標(biāo)準(zhǔn)要求接地電阻要小于 0.1ohm，建議采以頻率可以選擇 50Hz或 60Hz 的交流電流測(cè)試 ，以符合產(chǎn)品實(shí)際的工作環(huán)境。

　　Q：耐壓測(cè)試與電源泄漏測(cè)試測(cè)出的泄漏電流兩者有什么不同呢?

　　A：耐壓測(cè)試與電源泄漏測(cè)試之間是有一些差異，但一般而言, 這些差別可被概括如下。耐壓測(cè)試是利用高電壓對(duì)產(chǎn)品的絕緣加壓以確定是否產(chǎn)品的絕緣強(qiáng)度足夠防止過(guò)量的泄漏電流。 泄漏電流測(cè)試是量測(cè)產(chǎn)品在使用下，在正常和電源單一故障狀態(tài)下所流經(jīng)產(chǎn)品的泄漏電流量。

　　Q：在直流耐壓測(cè)試時(shí)，如何斷定電容性負(fù)載的放電時(shí)間?

　　A：放電時(shí)間之不同是視被測(cè)試物之電容量以及耐壓測(cè)試機(jī)之放電電路而定。電容量越大所需的放電時(shí)間越長(zhǎng)。