中科院極紫外光刻機(jī)光源技術(shù)研究項(xiàng)目通過(guò)驗(yàn)收 —— 作者: 時(shí)間:2007-01-19 來(lái)源: 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫(kù)查詢 收藏 1月16日,中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所“極紫外光刻機(jī)光源技術(shù)研究”項(xiàng)目通過(guò)驗(yàn)收,這標(biāo)志著我國(guó)在下一代芯片工藝核心技術(shù)——極紫外光刻(EUVL)光源轉(zhuǎn)換效率上已達(dá)國(guó)際先進(jìn)水平。 作為一種新型的微電子光刻技術(shù),“極紫外光刻”以波長(zhǎng)為13.5納米的“軟X射線”為曝光光源,最終將成為生產(chǎn)更細(xì)線寬集成電路的主流技術(shù)
評(píng)論