光纖傳輸通道測(cè)試方法介紹

　　認(rèn)證測(cè)試并不能提高綜合布線的通道性能，只是確認(rèn)所安裝的線纜、相關(guān)連接硬件及其工藝能否達(dá)到設(shè)計(jì)要求。只有使用能滿足特定要求的測(cè)試儀器并按照相應(yīng)的測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試，所得結(jié)果才是有效的。

　　比如，采用微軟公司Pentascanner5類(lèi)測(cè)試儀進(jìn)行5類(lèi)測(cè)試，方法是：先用測(cè)試儀連接跳線兩端，再按AutoTEST進(jìn)行測(cè)試，接著按F1顯示測(cè)試結(jié)果，最后打印測(cè)試結(jié)果。

　　認(rèn)證測(cè)試的內(nèi)容包括Length、Next(Nearendcrosstalk)、 Attenuation、Acr(Attenuationtocrosstalk)、WireMap、Impedance、Capacitance、 LoopResistance和Noise共9項(xiàng)5類(lèi)技術(shù)指標(biāo)。當(dāng)所有測(cè)試結(jié)果均為“PASS”(如圖1所示)時(shí)表示該布線系統(tǒng)符合 Category5Cable的傳輸技術(shù)要求。

　　如果在測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)一些問(wèn)題，我們可以從以下幾個(gè)方面著手分析，然后一一排除故障。

　?、俳舜?dāng)_未通過(guò)故障原因可能是近端連接點(diǎn)的問(wèn)題，或者是因?yàn)榇畬?duì)、外部干擾、遠(yuǎn)端連接點(diǎn)短路、鏈路電纜和連接硬件性能問(wèn)題、不是同一類(lèi)產(chǎn)品以及電纜的端接質(zhì)量問(wèn)題等等。

　?、诮泳€圖未通過(guò)故障原因可能是兩端的接頭有斷路、短路、交叉或破裂，或是因?yàn)榭缃渝e(cuò)誤等。

　?、鬯p未通過(guò)故障原因可能是線纜過(guò)長(zhǎng)或溫度過(guò)高，或是連接點(diǎn)問(wèn)題，也可能是鏈路電纜和連接硬件的性能問(wèn)題，或不是同一類(lèi)產(chǎn)品，還有可能是電纜的端接質(zhì)量問(wèn)題等。

　?、荛L(zhǎng)度未通過(guò)故障原因可能是線纜過(guò)長(zhǎng)、開(kāi)路或短路，或者設(shè)備連線及跨接線的總長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng)等。

　?、轀y(cè)試儀故障故障原因可能是測(cè)試儀不啟動(dòng)(可采用更換電池或充電的方法解決此問(wèn)題)、測(cè)試儀不能工作或不能進(jìn)行遠(yuǎn)端校準(zhǔn)、測(cè)試儀設(shè)置為不正確的電纜類(lèi)型、測(cè)試儀設(shè)置為不正確的鏈路結(jié)構(gòu)、測(cè)試儀不能存儲(chǔ)自動(dòng)測(cè)試結(jié)果以及測(cè)試儀不能打印存儲(chǔ)的自動(dòng)測(cè)試結(jié)果等。

　　2.光纖傳輸通道測(cè)試

　　雖然光纖的種類(lèi)較多，但光纖及其傳輸系統(tǒng)的基本測(cè)試方法大體相同，所使用的測(cè)試儀器也基本相同。

　　對(duì)磨接后的光纖或光纖傳輸系統(tǒng)，必須進(jìn)行光纖特性測(cè)試，使之符合光纖傳輸通道測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。基本的測(cè)試內(nèi)容包括連續(xù)性和衰減/損耗、光纖輸入功率和輸出功率、分析光纖的衰減/損耗及確定光纖連續(xù)性和發(fā)生光損耗的部位等。實(shí)際測(cè)試時(shí)還包括光纜長(zhǎng)度和時(shí)延等內(nèi)容。光纖測(cè)試指標(biāo)主要是衰減，如果衰減在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)為“PASS”，反之為“FALL”。如果在測(cè)試光纖過(guò)程中出現(xiàn)一些問(wèn)題，我們需要查看光纖磨接是否正確，光纖頭是否一一對(duì)應(yīng)。

　　布線是為未來(lái)投資，所以布線時(shí)一定要有超前意識(shí)，特別要強(qiáng)調(diào)布線質(zhì)量，因?yàn)椴季€的好壞直接影響網(wǎng)絡(luò)能否正常工作。布線測(cè)試是保障網(wǎng)絡(luò)正常工作不可或缺的一道“門(mén)檻”，只有通過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試，網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)才能投入運(yùn)行。