微波電磁環(huán)境測(cè)試的實(shí)用方法
表3 《微波電磁環(huán)境測(cè)試記錄資料——測(cè)試基本情況記錄》
(2)測(cè)試準(zhǔn)備和設(shè)備連接
用萬(wàn)用表測(cè)量電源電壓,要求電壓為交流220±10V,若用柴油機(jī)發(fā)電要連接穩(wěn)壓電源。如圖1所示,先不加低噪聲放大器連接各測(cè)試設(shè)備,天線(xiàn)高于測(cè)試點(diǎn)地面1.5米以上,相關(guān)儀表接地。
(3)保護(hù)性測(cè)試及系統(tǒng)校驗(yàn)
保護(hù)性測(cè)試及系統(tǒng)校驗(yàn)是為了保證測(cè)試儀表的安全。測(cè)試人員對(duì)新測(cè)試點(diǎn)的電磁環(huán)境較為陌生,所以必須先在頻譜儀的射頻輸入端加接30dB的衰減器,進(jìn)行保守測(cè)試,然后再根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)信號(hào)大小,選擇合適的衰減器或不加衰減器。
該測(cè)試過(guò)程如下:打開(kāi)頻譜分析儀,設(shè)置測(cè)試的中心頻率和掃頻寬度,用最大保持方式測(cè)試;將喇叭天線(xiàn)俯仰角放在0°,分別采取水平和垂直兩種極化方式按順時(shí)針?lè)较蚓徛D(zhuǎn)動(dòng)進(jìn)行掃描測(cè)試;分析測(cè)試結(jié)果,如有大信號(hào)則必須加合適的衰減器(包括頻譜分析儀的內(nèi)部衰減),否則可去掉衰減器(注意:為保護(hù)儀表,卸去衰減器前,務(wù)必將頻譜分析儀關(guān)閉)進(jìn)行后續(xù)測(cè)試。
(4)大信號(hào)測(cè)試
為避免非線(xiàn)性失真,先不加低噪聲放大器。運(yùn)行HP8593自動(dòng)監(jiān)測(cè)軟件,設(shè)置測(cè)試頻段的中心頻率、掃頻寬度和分辨率帶寬,設(shè)置頻譜分析儀為最大保持方式,將喇叭天線(xiàn)俯仰角放在0°,分別采取水平和垂直兩種極化方式按順時(shí)針?lè)较蚓徛D(zhuǎn)動(dòng)進(jìn)行掃描測(cè)試,發(fā)現(xiàn)信號(hào)則停止轉(zhuǎn)動(dòng),調(diào)整掃頻寬度和分辨率帶寬至最佳(能夠分辨信號(hào)為止),記錄信號(hào)電平、占用帶寬和方位以及信號(hào)特征(同時(shí)記錄保存瞬時(shí)頻譜圖和最大保持頻譜圖的時(shí)間),可參考《微波頻段電磁環(huán)境測(cè)試記錄表》(見(jiàn)表4)。
表4 《微波頻段電磁環(huán)境測(cè)試記錄表》
(5)弱小信號(hào)環(huán)境測(cè)試
對(duì)一些信號(hào)強(qiáng)度較弱的測(cè)試點(diǎn)或在一些重要測(cè)試頻段,可通過(guò)加接低噪聲放大器來(lái)提高測(cè)試系統(tǒng)靈敏度。先將頻譜分析儀關(guān)閉,按圖1所示連接低噪聲放大器,然后打開(kāi)頻譜分析儀,并按步驟(4)進(jìn)行測(cè)試。此外,鑒于加接低噪聲放大器后測(cè)試系統(tǒng)變得更加靈敏,必要時(shí)需對(duì)接收測(cè)試信號(hào)進(jìn)行真實(shí)性判定。本文提供兩個(gè)真假信號(hào)識(shí)別方法,方法一:對(duì)測(cè)試信號(hào)明顯高于背景噪聲(通常為30dB以上)的情況,若去掉低噪聲放大器,被測(cè)試信號(hào)消失,則判定其為假信號(hào)。方法二:在低噪聲放大器前端加接10dB衰減器,若原被測(cè)試信號(hào)幅值下降遠(yuǎn)大于10dB,則判定為假信號(hào)。
(6)背景噪聲測(cè)試
背景噪聲測(cè)試可結(jié)合步驟(4)和步驟(5)進(jìn)行。但鑒于測(cè)試結(jié)果的一致性和可比性要求,應(yīng)統(tǒng)一背景噪聲測(cè)試的分辨率帶寬(RBW為30kHz)。對(duì)于背景噪聲的取值,應(yīng)在要求頻段內(nèi)無(wú)測(cè)試信號(hào)位置處讀取瞬時(shí)電平值,并記錄背景噪聲電平至《微波頻段電磁背景噪聲測(cè)試記錄表》(如表5所示)。
表5 《微波頻段電磁背景噪聲測(cè)試記錄表》
頻譜儀主要參數(shù)設(shè)置(僅供參考,測(cè)試時(shí)視具體情況可適當(dāng)調(diào)整):
頻段范圍:擬測(cè)頻段。
分辨帶寬:100kHz。
掃描寬度:依據(jù)擬測(cè)試頻段設(shè)定。
輸入衰減:10dB。
保持時(shí)間:30秒。
掃描時(shí)間:自動(dòng)。
需要說(shuō)明的是,以上是微波頻段電磁環(huán)境測(cè)試的通用方法,一個(gè)循環(huán)通常可完成一個(gè)頻段的測(cè)試,多個(gè)頻段的測(cè)試可以從第3至第6步重復(fù)進(jìn)行。一個(gè)測(cè)試點(diǎn)測(cè)試完畢后,可將該點(diǎn)各頻段在不同時(shí)段測(cè)試的基本結(jié)論記入《微波電磁環(huán)境測(cè)試記錄資料——測(cè)試基本結(jié)論表》(如表6所示)。
表6 《微波電磁環(huán)境測(cè)試記錄資料——測(cè)試基本結(jié)論表》
5 測(cè)試要求
(1)測(cè)試時(shí)段要求
為了能反映各頻段通信信道的衰落特性,各項(xiàng)內(nèi)容的測(cè)試時(shí)間參照國(guó)標(biāo)和國(guó)際電聯(lián)(ITU)對(duì)無(wú)線(xiàn)電監(jiān)測(cè)的有關(guān)規(guī)定,要求每個(gè)地域和頻段的測(cè)試有效時(shí)間應(yīng)包括上午、下午和晚上等不同時(shí)段。
(2)將端口電壓換算為天線(xiàn)場(chǎng)強(qiáng)
測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)采集的數(shù)據(jù)(背景噪聲和信號(hào)電平值)均為頻譜分析儀的端口電壓值U,單位為dBm,撰寫(xiě)測(cè)試報(bào)告進(jìn)行數(shù)據(jù)分析時(shí)需經(jīng)過(guò)折算等效成天線(xiàn)口面的場(chǎng)強(qiáng)值E,單位為dBμV/m。
其具體方法如下:考慮天線(xiàn)K因子和低噪聲放大器增益G(如未加低噪聲放大器,則不考慮)、饋線(xiàn)和轉(zhuǎn)接頭的損耗d以及折算系數(shù)F(頻譜分析儀輸入阻抗為50Ω時(shí),F(xiàn)=107dB)等因素,參照相應(yīng)的天線(xiàn)技術(shù)指標(biāo),經(jīng)過(guò)公式E=U+K-G+d+F的折算,可將頻譜分析儀的端口電壓值U(dBm)等效為天線(xiàn)口面的場(chǎng)強(qiáng)值E(dBμV/m),并可依據(jù)GB 13616-92《微波接力站電磁環(huán)境保護(hù)要求》換算出功率通量密度。
(3)微波電磁環(huán)境測(cè)試設(shè)備清單(見(jiàn)表7)
表7 微波電磁環(huán)境測(cè)試設(shè)備清單
6 結(jié)束語(yǔ)
本文所述的五個(gè)方面是微波電磁環(huán)境測(cè)試工作的主要內(nèi)容,測(cè)試人員既可據(jù)此在添加任務(wù)來(lái)源、測(cè)試計(jì)劃(包括測(cè)試地點(diǎn)、人員和時(shí)間)、測(cè)試目的、測(cè)試內(nèi)容和設(shè)備清單等部分后形成“×××微波電磁環(huán)境測(cè)試方案”,也可在添加任務(wù)來(lái)源、測(cè)試目的、測(cè)試內(nèi)容、基本情況、數(shù)據(jù)分析、基本結(jié)論和建議等部分后形成 “×××微波電磁環(huán)境測(cè)試報(bào)告”。筆者從實(shí)用角度出發(fā)提供的測(cè)試方法和記錄表格,僅供有關(guān)測(cè)試人員參考。在實(shí)際的電測(cè)工作中具體情況要具體分析,特殊情況應(yīng)特殊處理,切勿生搬硬套。
評(píng)論