新聞中心

EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > EN61000-3-2電流諧波質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的兼容性測(cè)試

EN61000-3-2電流諧波質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的兼容性測(cè)試

作者: 時(shí)間:2012-03-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

全球范圍內(nèi)要增加新的電源變得日益困難,用于規(guī)范電源系統(tǒng)干擾指標(biāo)的電源,如-3-2標(biāo)準(zhǔn),正在實(shí)施,其目的是使現(xiàn)有的總發(fā)電能力的效率最大化。同時(shí),從低功率轉(zhuǎn)換器到高功率機(jī)車(chē)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)這一過(guò)程中所消耗的電能在不斷增加。即使像蜂窩電話的電池充電器這樣的低功耗設(shè)備,也會(huì)對(duì)電力系統(tǒng)質(zhì)量造成影響,因?yàn)閷?shí)際上會(huì)有數(shù)千個(gè)這樣的裝置同時(shí)從電網(wǎng)中吸取電能。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/194227.htm

456.gif

電源設(shè)計(jì)工程師,既要滿足規(guī)范的要求,又要在消耗功率日益增多的電路中提高電源的效率,因而必須提取器件的性能特征并驗(yàn)證兼容性。這就要求進(jìn)行復(fù)雜的分析和測(cè)量。例如,要確保某一交流電/直流電(AC/DC)電源與-3-2標(biāo)準(zhǔn)相符合,設(shè)計(jì)工程師需要測(cè)試連線設(shè)備的電流失真,校正功率因素并測(cè)試其兼容性。功率因素的校正通常可采用有源或無(wú)源濾波器方法,然后在一個(gè)完全兼容的系統(tǒng)內(nèi)對(duì)其兼容性進(jìn)行測(cè)試,在許多情況下設(shè)計(jì)工程師很難達(dá)到這一要求。

測(cè)試設(shè)置

用Tektronix電壓和電流探頭將線電壓和線電流連接起來(lái),如果采用了Tektronix探頭,頻率響應(yīng)會(huì)被自動(dòng)同步,以確保取得準(zhǔn)確的結(jié)果。

如果采用了非Tektronix公司生產(chǎn)的探頭,PWR 2將會(huì)記錄電流探頭的頻率范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)在圖1中所示的I-探頭阻抗表中進(jìn)行了詳細(xì)記錄。在進(jìn)行兼容性測(cè)試的限定表計(jì)算比例時(shí),將會(huì)采用這些數(shù)據(jù)。

配置及運(yùn)行測(cè)試

-3-2標(biāo)準(zhǔn)包含了四個(gè)類(lèi)別的標(biāo)準(zhǔn):A、B、C 和 D類(lèi)(見(jiàn)表1)。TDSPWR2均適用于四種類(lèi)別的的兼容性測(cè)試。

A類(lèi)和B類(lèi)的限定表由國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)制定,然而C類(lèi)和D類(lèi)的限定條件實(shí)際上是個(gè)變量。它們?nèi)Q于被測(cè)電源的功率因素和由電源所驅(qū)動(dòng)的功率。TDSPWR2將自動(dòng)得出所采用的測(cè)試方法并決定C類(lèi)和D類(lèi)的限定要求。

選擇相應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn),如圖2所示,針對(duì)不同類(lèi)別來(lái)設(shè)置相應(yīng)的兼容性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

選擇“set”填充限定表

選擇“run”。示波器將根據(jù)所需的線頻率自動(dòng)決定所需記錄長(zhǎng)度和抽樣率,以符合在所選的EN61000-3-2標(biāo)準(zhǔn)中所定義的快速博里葉變換算法的要求。

測(cè)試結(jié)果

如圖4所示,TDSPWR2以表格形式提供了完整的測(cè)試結(jié)果。要轉(zhuǎn)換“table”和“bar graph”,可選擇“view”。我們可以移到第40次諧波元素。除了有用功率、無(wú)用功率、功率因素外,也將對(duì)總諧波失真加以自動(dòng)計(jì)算并顯示出來(lái)以便迅速分析。“CSV” 文件輸出格式可讓我們很容易地采用這些數(shù)據(jù)進(jìn)行其它的應(yīng)用以便進(jìn)一步的分析。

結(jié)論

具有TDSPWR2功率測(cè)試及分析軟件的TDS5000 或 TDS7000 系列磷光示波器對(duì)于加速和簡(jiǎn)化電子器件的設(shè)計(jì)和兼容性測(cè)試均具有重要意義。



評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專(zhuān)區(qū)

關(guān)閉