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天線測(cè)試方法介紹

作者: 時(shí)間:2012-03-07 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/194368.htm
《電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)》

  圖7:圖中測(cè)試采用雙脊喇叭作為源。

  有許多像APM和HiL那樣的不同可進(jìn)行天線測(cè)量。測(cè)量技巧在于選擇正確的場(chǎng),具體取決于待測(cè)的天線。對(duì)于中型天線(10個(gè)波長(zhǎng)大小),推薦使用遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試場(chǎng)。另一方面,錐形暗室可以為低于500MHz的頻率提供更好的解決方案。它們也可以用于2GHz以上的頻率,但操作時(shí)需要備加小心才能確保獲得足夠好的性能。通過(guò)了解錐形微波暗室的正確使用,今天的工程師可以使用非常有用的工具開(kāi)展100MHz至300MHz以及UHF范圍的天線測(cè)量。

  

《電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)》

  圖8:圖中測(cè)試采用一個(gè)對(duì)數(shù)周期天線來(lái)掃描QZ以測(cè)量反射率。


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