芯片開發(fā)和生產(chǎn)中的IC測試基本原理分析

　　電源消耗(ICC，IDD，IEE)。該項(xiàng)測試決定器件的電源消耗規(guī)格，也就是電源管腳在規(guī)定的電壓條件下的最大電流消耗，電源消耗測試可分為靜態(tài)電源消耗測試和動(dòng)態(tài)電源消耗測試，靜態(tài)電源消耗測試決定器件在空閑狀態(tài)下時(shí)最大的電源消耗，而動(dòng)態(tài)電源消耗測試決定器件工作時(shí)的最大電源消耗。

　　2.3 交流參數(shù)測試

　　交流參數(shù)測試測量器件晶體管轉(zhuǎn)換狀態(tài)時(shí)的時(shí)序關(guān)系。交流測試的目的是保證器件在正確的時(shí)間發(fā)生狀態(tài)轉(zhuǎn)換，輸入端輸入指定的輸入邊沿，特定的時(shí)間后在輸出端檢測預(yù)期的狀態(tài)轉(zhuǎn)換。

　　常用的交流測試有傳輸延遲測試，建立和保持時(shí)間測試，以及頻率測試等。

　　傳輸延遲測試是指在輸入端產(chǎn)生一個(gè)狀態(tài)(邊沿)轉(zhuǎn)換和導(dǎo)致相應(yīng)的輸出端的狀態(tài)(邊沿)轉(zhuǎn)換之間的延遲時(shí)間，該時(shí)間從輸出端的某一特定的電壓開始到輸出端的某一特定的電壓結(jié)束，一些更嚴(yán)格的時(shí)序測試還會(huì)包括以下的這些項(xiàng)目：

　　三態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)間測試

　　TLZ，THZ：從輸出使能關(guān)閉到輸出三態(tài)完成的轉(zhuǎn)換時(shí)間。

　　TZL，TZH：從傳輸使能開始到輸出有效數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換時(shí)間。

　　存儲(chǔ)器讀取時(shí)間--從內(nèi)存單元讀取數(shù)據(jù)所需的時(shí)間，測試讀取時(shí)間的步驟一般如下所示

　　(1)往單元A寫入數(shù)據(jù)0，

　　(2)往單元B寫入數(shù)據(jù)1，

　　(3)保持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A的值，

　　(4)地址轉(zhuǎn)換到單元B，

　　(5)轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)間。

　　寫入恢復(fù)時(shí)間--在寫操作之后的到能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時(shí)間。

　　暫停時(shí)間--內(nèi)存單元能保持它們狀態(tài)的時(shí)間，本質(zhì)上就是測量內(nèi)存數(shù)據(jù)的保持時(shí)間。

　　刷新時(shí)間--刷新內(nèi)存的最大允許時(shí)間。

　　建立時(shí)間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必須提前鎖定輸入時(shí)鐘的時(shí)間。

　　保持時(shí)間--在鎖定輸入時(shí)鐘之后輸入數(shù)據(jù)必須保持的時(shí)間。

　　頻率--通過反復(fù)運(yùn)行功能測試，同時(shí)改變測試周期，來測試器件運(yùn)行的速度，周期和頻率通常通過二進(jìn)制搜索的辦法來進(jìn)行變化。頻率測試的目的是找到器件所能運(yùn)行的最快速度。