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LTE終端測試簡述

作者: 時間:2012-01-20 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

由于是CDMA2000網(wǎng)絡(luò)運營商(如Verizon Wireless)的下一代技術(shù)選擇,所以與3GPP2 CDMA2000高費率分組數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)的互通是一個明確要求。在無線網(wǎng)絡(luò)接口處合并3GPP和3GPP2網(wǎng)絡(luò)拓撲是一個有意義的進展,這需要進行周密的測試,以確保其運行達到預(yù)期目標。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/194514.htm

  對網(wǎng)絡(luò)運營商來說,維持同時使用IP網(wǎng)絡(luò)和傳統(tǒng)電路交換網(wǎng)絡(luò)的語音業(yè)務(wù)將會是一大挑戰(zhàn)。主流網(wǎng)絡(luò)運營商在2010年移動通信世界大會(Mobile World Congress 2010)上宣布的有關(guān)Vo(語音LTE)標準化的協(xié)議,將在很大程度上解決這個問題。但是,使用3GPP的IMS(IP多媒體子系統(tǒng))技術(shù)仍然需要進行大規(guī)模部署。

  測試挑戰(zhàn)和需求

  滿足LTE終端設(shè)備的嚴格要求的關(guān)鍵在于將設(shè)計分成子系統(tǒng),并制定一個允許在測試完整終端之前對每個設(shè)計部分進行徹底檢驗的測試計劃。如果不采用這種模塊化方案,則問題的診斷可能拖到項目的最后階段,以致難以管理最終發(fā)布階段,包括現(xiàn)場試驗及一致性測試。

  無論終端設(shè)計是從頭開始、基于較早前的設(shè)計還是使用第三方集成組件,都需進行多項關(guān)鍵性能測量。其中一些測量(如最大輸出功率、功率控制和接收機靈敏度)是早前技術(shù)已經(jīng)熟悉的,但由于所用的傳輸方式(下行鏈路中為OFDMA,上行鏈路中為SC-FDMA)不同,所以需要新的測量設(shè)備來支持這些測試。

  其它一些測量是LTE特有的。例如,對于OFDMA傳輸方式,子載波誤差向量幅度(EVM)變成調(diào)制器性能的一項重要測試。隨著700MHz模擬TV頻譜的可供使用,LTE將以低于GSM或WCDMA的頻率來部署,從而得到大很多的帶寬:20MHz/700MHz=2.8%。相比之下,對于典型的WCDMA終端為:5MHz/2100MHz=0.24%。這會對一些調(diào)制器架構(gòu)帶來挑戰(zhàn),因為它會導(dǎo)致小區(qū)邊緣處的EVM值較高,所以在設(shè)計階段要特別注意這一點。

  由于一些測試(如功率控制)的動態(tài)性質(zhì),所以需要使用信令協(xié)議來建立測量條件。這就要求測試設(shè)備必須包括協(xié)議棧和模擬演進型節(jié)點B(eNB)基站。由于這些測量通常是由RF工程師而不是協(xié)議專家來執(zhí)行的,所以所用的測試設(shè)備必須易于配置,使工程師能夠?qū)⒕杏跍y量本身。

  協(xié)議測試

  協(xié)議棧開發(fā)者面臨的主要挑戰(zhàn)之一是確保狀態(tài)變化響應(yīng)要求得到滿足。雖然LTE規(guī)范已經(jīng)將終端設(shè)備的可能狀態(tài)數(shù)量減少到RRC_IDLE和RRC_CONNECTED,但是在需要發(fā)送數(shù)據(jù)時,從一種狀態(tài)變?yōu)榱硪环N狀態(tài)所需的時間將構(gòu)成時延預(yù)算的一大部分。

  在RRC_IDLE模式下,終端設(shè)備盡可能將自身處于低功耗狀態(tài),以確保出色的電池壽命,接收機被周期性地激活以檢查尋呼消息。當數(shù)據(jù)傳輸時間預(yù)定后,終端必須處于喚醒狀態(tài)并快速同步其上行鏈路。

  在協(xié)議測試過程中,用于生成測試用例的工作量常常與創(chuàng)建協(xié)議棧的工作量一樣多,所以擁有全面而高效的測試設(shè)施很重要。為能夠細分測試,重要的是能夠測量用戶平面和控制平面中的每個子層。協(xié)議測試診斷功能在查找故障時很重要。通常,這包括帶時間戳的消息日志記錄和解碼。但重要的是這也可以用于每個子層,以提供跟蹤信令消息流程細節(jié)的功能(從MAC PDU直到RRC消息),從而確保定時要求得到滿足。

  要想能夠為每個層創(chuàng)建測試情景,就必須擁有對測試設(shè)備的詳細控制,但這需要盡可能地易于使用,以避免痛苦的學習過程。圖形化測試描述(例如由場景向?qū)峁┑?提供了定義新測試的最清晰方法(圖1)。

  


  圖1:圖形化測試描述(例如由場景向?qū)峁┑?提供了定義新測試的最清晰方法。

  性能測試

  一旦RF、基帶、協(xié)議棧和應(yīng)用層實現(xiàn)集成,接下來就需要對整體終端性能進行全面測試。在此階段期間,必須查出和消除數(shù)據(jù)傳輸瓶頸,以最大化數(shù)據(jù)吞吐量——包括在正常和極端溫度及電源電壓條件下。另外還需要在滿負荷條件下測量功耗、熱特性、電磁兼容性(EMC)、發(fā)射及磁化率。一般情況下,這需要使用2x2下行鏈路多輸入多輸出(MIMO)技術(shù)。

  測試設(shè)備要能夠在小區(qū)之間無縫交接數(shù)據(jù),同時盡量減小對數(shù)據(jù)吞吐率的影響,就像要能在不同無線接入技術(shù)之間進行交接數(shù)據(jù),同時保持數(shù)據(jù)連接一樣。已有多家供應(yīng)商推出了設(shè)計緊湊、靈活和模塊化的測試儀器。例如,Aeroflex的LTE測試產(chǎn)品就支持用于測試LTE終端性能的所有功能(圖2)。

  

  圖2:Aeroflex的LTE測試產(chǎn)品支持用于測試LTE終端性能的所有功能。


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