基于脈沖反射法的電纜故障檢測(cè)儀設(shè)計(jì)

摘要：介紹了一種以嵌入式綴處理器Nios為核心的電纜故障檢測(cè)儀。該儀器應(yīng)用A／D器件和FPGA組成可變頻率的高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，利用低壓脈沖反射法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)電纜的斷路、短路等故障的檢測(cè)與定位。
關(guān)鍵詞：電纜；故障檢測(cè)儀；低壓脈沖反射法；可編程邏輯器件

引言
電纜是通信、測(cè)試等系統(tǒng)信號(hào)傳輸?shù)闹匾d體，隨著電纜數(shù)量的增多及運(yùn)行時(shí)間的延長(zhǎng)，電纜也越來越頻繁地發(fā)生故障。電纜線路的隱蔽性及測(cè)試設(shè)備的局限性，使電纜故障的查找非常困難。本文設(shè)計(jì)了一種以嵌入式微處理器Nios為核心的電纜故障檢測(cè)儀，應(yīng)用A／D器件和FPGA組成可變頻率的高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，利用低壓脈沖反射法原理來實(shí)現(xiàn)線纜的斷路、短路、斷路點(diǎn)、短路點(diǎn)的檢測(cè)與定位。該儀器可廣泛應(yīng)用于通信維護(hù)、工程施工和綜合布線，對(duì)市話電纜、同軸電纜等各種線纜進(jìn)行測(cè)試和障礙維護(hù)。

1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)
利用低壓脈沖反射法檢測(cè)電纜故障。主要原理是：向電纜發(fā)送一個(gè)電壓脈沖，當(dāng)發(fā)射脈沖在傳輸線上遇到故障時(shí)，由于故障點(diǎn)阻抗不匹配，產(chǎn)生反向脈沖，通過計(jì)算二者的時(shí)間差△T，并分析反射脈沖的特性來進(jìn)行故障的定性與定位。該方法適用于斷線、接觸不良、低電阻或短路故障的測(cè)試。
故障點(diǎn)距離L為：L=V·△T／2。式中，V是脈沖在電纜中的傳播速度。根據(jù)反向脈沖的極性可判斷故障性質(zhì)：斷線或接觸不良引起的反向脈沖為正，低電阻或短路故障引起的反向脈沖為負(fù)。
該儀器是一個(gè)便攜式電纜故障檢測(cè)設(shè)備，可利用現(xiàn)代電子技術(shù)(如高速A／D技術(shù)、異步FIFO技術(shù)、現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯陣列FPGA等)來提高集成度和靈活性。系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。

脈沖發(fā)生電路產(chǎn)生探測(cè)脈沖，高速的A／D轉(zhuǎn)換器對(duì)脈沖及其反射回波信號(hào)進(jìn)行采樣，使用異步FIFO作為A／D采樣數(shù)據(jù)的緩存。軟核Nios作為系統(tǒng)核心，控制檢測(cè)任務(wù)的啟動(dòng)和結(jié)束、脈沖發(fā)送接收模式的選擇、A／D采樣數(shù)據(jù)的處理計(jì)算、故障性質(zhì)和位置的判斷及顯示等。其中，軟核處理器和邏輯功能都是在現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯器件中編程實(shí)現(xiàn)的。

2 功能及性能指標(biāo)
短路測(cè)試：檢測(cè)電纜芯線之間是否有不必要的連接及其位置。
斷路測(cè)試：檢測(cè)電纜中某芯線是否斷路及其位置。
顯示：顯示測(cè)試結(jié)果，即測(cè)量中開路及短路的位置。
測(cè)量范圍：2～1000 m。
測(cè)試精度：可選擇2 m和10 m兩種精度。
脈沖振幅：負(fù)載開路5 V。
脈沖寬度：20 ns，100 ns。
最大采樣速率：100 MHz。
波形記錄長(zhǎng)度：1024點(diǎn)。