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EMI濾波器測(cè)試技術(shù)研究

作者: 時(shí)間:2009-02-11 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
隨著科學(xué)技術(shù)和生產(chǎn)的發(fā)展,電子產(chǎn)品日益增多,從而空間電磁環(huán)境越發(fā)復(fù)雜,惡劣的電磁環(huán)境將會(huì)對(duì)人類及各種生物造成嚴(yán)重影響,另外電子產(chǎn)品間也可能互相產(chǎn)生干擾導(dǎo)致其不能正常工作,于是出現(xiàn)了EMC。
在電子設(shè)備及電子產(chǎn)品中,電磁干擾能量可通過輻射性耦合或傳導(dǎo)性耦合進(jìn)行傳輸。在抑制電磁干擾信號(hào)的輻射干擾方面,屏蔽是有效的措施;在抑制電磁干擾信號(hào)的傳導(dǎo)干擾方面,是十分有效的器件。由于是抑制傳導(dǎo)干擾的重要器件,所以研究方法就變得十分重要。

l EMI濾波器的指標(biāo)
1.1 共模干擾和差模干擾
實(shí)際上EMI電源濾波器起兩種低通濾波器的作用:衰減共模干擾和衰減差模干擾。對(duì)任何電源線上的傳導(dǎo)干擾信號(hào),都可以用共模和差模干擾信號(hào)來表示。并且可把L―E和N―E之間的共模干擾信號(hào)、L―N之間的差模干擾信號(hào)看作獨(dú)立的EMI源,把單相電源內(nèi)的L―E、N―E和L―N看作獨(dú)立網(wǎng)絡(luò)端口來分析EMI信號(hào)和有關(guān)的濾波網(wǎng)絡(luò)。圖1中,U1和U2為共模干擾信號(hào),U3為差模干擾信號(hào)。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/195969.htm

1.2 EMI濾波器網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)
圖2所示為單相電源濾波器的基本網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)。它是由集中參數(shù)元件構(gòu)成的無源低通網(wǎng)絡(luò),濾波網(wǎng)絡(luò)主要由兩只電感L1和L2,三只電容CX、CY1、CY2組成。如果把該濾波器一端接入電源,負(fù)載端接上被干擾設(shè)備,那么L1和CY1,L2和CY2就分別構(gòu)成L―E和N―E兩對(duì)獨(dú)立端口間的低通濾波器,用來抑制電源線上存在的共模EMI信號(hào)。此外,L1、L2又與CX構(gòu)成L―N獨(dú)立端口之間的低通濾波器,抑制差模干擾信號(hào)。
1.3 EMI濾波器漏電流性能測(cè)試
泄漏電流是指在250VAC的電壓下,相線和中線與濾波器外殼(地線)間流過的電流。它主要取決于接地電容(共模電容)的取值。較大的共模電容CY可以提高插入損耗,但卻造成較大的漏電流。泄漏電流的測(cè)試電路如圖3所示:

1.4 EMI濾波器耐壓性能測(cè)試
為確保電源濾波器的性能以及設(shè)備和人身安全,必須進(jìn)行耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試是在極端工作條件下的測(cè)試。若CX電容器的耐壓性能欠佳,在出現(xiàn)峰值浪涌電壓時(shí),可能被擊穿。它的擊穿雖然不危及人身安全,但會(huì)使濾波器功能喪失或性能下降。CY電容器除了滿足接地漏電流的要求外,還在電氣和機(jī)械性能方面具有足夠的安全余量,避免在極端惡劣的環(huán)境條件下出現(xiàn)擊穿短路現(xiàn)象。故線一地之間的耐壓性能對(duì)保護(hù)人身安全有重要意義,一旦設(shè)備或裝置的絕緣保護(hù)措施失效,可能導(dǎo)致人員傷亡。
1.5 EMI濾波器的性能評(píng)定
EMI電源濾波器在使用時(shí)考慮最多的是額定電壓及電流值、耐壓性能、漏電流三項(xiàng),而其中最主要的評(píng)定性能為濾波器的插入損耗性能。
EMI電源濾波器對(duì)干擾噪聲的抑制能力用插入損耗I.L.(Insertion Loss)來衡量。插入損耗定義為:沒有濾波器接入時(shí),從噪聲源傳輸?shù)截?fù)載的功率P1和接入濾波器后,從噪聲源傳輸?shù)截?fù)載的功率P2之比,用dB(分貝)表示。


2 EMI濾波器的頻域測(cè)試

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的確定為電源EMI濾波器的各項(xiàng)指標(biāo)提供了統(tǒng)一的衡定依據(jù)。其中最主要的測(cè)試項(xiàng)目為濾波器頻域上的插入損耗測(cè)試
2.1 插入損耗的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量法中規(guī)定,在50Ω~75之間的任一阻值的系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試它的插入損耗特性。測(cè)試原理如圖4所示。

實(shí)際測(cè)試時(shí),常常利用屏蔽室來測(cè)試濾波器的插入損耗,測(cè)試圖如圖5所示。
2.2 插入損耗的加載測(cè)試
在EMI濾波器產(chǎn)品中,由于使用不合適的材料,共模扼流圈不可能保證完全對(duì)稱會(huì)導(dǎo)致磁環(huán)的飽和,同時(shí)寄生差模電感也可能產(chǎn)生磁環(huán)的飽和,使得濾波器的實(shí)際使用情況與廠家提供數(shù)據(jù)有很大差距,因此必須對(duì)濾波器采用加載測(cè)試。

3 EMI濾波器的時(shí)域測(cè)試
一般地,對(duì)于EMI電源濾波器我們只關(guān)心它的常規(guī)性能及頻域抑制性能。而對(duì)于EMI信號(hào)線濾波器,由于傳輸線本身就會(huì)產(chǎn)生一定的電磁干擾,所以測(cè)試信號(hào)必然會(huì)產(chǎn)生一定的衰減。這時(shí),我們就要對(duì)其進(jìn)行時(shí)域傳輸性能上的測(cè)試。
使用50kHz的方波對(duì)電容值為8000pF的濾波插針進(jìn)行濾波,發(fā)現(xiàn)其時(shí)域的上升沿和下降沿有明顯的變化。頻域上,經(jīng)過濾波后,方波信號(hào)的高頻分量被濾除。


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