淺析LED常規(guī)性老化方式

led常規(guī)性老化試驗(yàn)對(duì)比

一般來說，尤其是大功率LED在初始點(diǎn)亮階段光度都會(huì)有一定的衰減，LED封裝廠為了提供給應(yīng)用端廠商發(fā)光穩(wěn)定的產(chǎn)品，或者是應(yīng)用端廠商家為了獲得穩(wěn)定的led材料，通常都會(huì)做一些老化試驗(yàn)。當(dāng)然LED老化試驗(yàn)有多種方式，如常規(guī)性老化、過電流沖擊破壞性試驗(yàn)等等。

LED廠商通常會(huì)用以下幾種方式進(jìn)行常規(guī)性老化：

1、多顆管串聯(lián)老化：恒壓老化電路和恒流老化電路

2、多顆管并聯(lián)老化

3、多顆管串并聯(lián)老化：串并恒壓老化和串并恒流老化

4、單管恒流老化

比較以上4種老化方式，1、3種方式中只要有一顆LED出現(xiàn)品質(zhì)故障，比如LED短路或者斷路都會(huì)影響別的LED的工作電流參數(shù)。第2種方式優(yōu)于1、3種，任一顆LED特性變化不會(huì)影響到別的LED老化參數(shù)，但事實(shí)上靠電阻限流的方式是不可靠的，電阻本身阻值漂移和LED自身電壓特性變化都會(huì)嚴(yán)重影響LED參數(shù)。顯然，第4種單管恒流老化抓住了LED電流工作特性，是最科學(xué)的LED老化方式。

老化在試驗(yàn)過程中應(yīng)該是一個(gè)非常重要的過程，但在很多企業(yè)往往會(huì)被忽視，不能進(jìn)行正確有效的老化，后面對(duì)LED本身所進(jìn)行的包括亮度、波長(zhǎng)等所有參數(shù)的分析都將不確定。過電流沖擊性老化也是廠家經(jīng)常使用的一種老化手段，通常使用頻率可調(diào)、電流可調(diào)并且占空比可調(diào)的恒流源進(jìn)行此類老化，以期待短時(shí)間內(nèi)判斷LED的品質(zhì)及預(yù)期壽命。