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pic單片防靜電能力及防靜電技術(shù)

作者: 時(shí)間:2016-08-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  關(guān)于16F914抗靜電放電。。。。。。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/201608/295755.htm

  最近做了個(gè)項(xiàng)目,用16F914,就幾個(gè)按鍵,幾個(gè)數(shù)碼管,幾個(gè)輸入信號(hào)(數(shù)字信號(hào))處理。板子脈沖群測試很好,4kV都沒問題。就是靜電放電,耦合怎么打都過不了6kV,以前用過的16F72,16F73,16C57都很好15kV輕松過,各位達(dá)人有什么高招啊,謝謝~~

  試過方案:

  1:MCLR上拉10k、串聯(lián)一個(gè)1k電阻,0.1uf電容到地。

  2:MCLR上拉1k、串聯(lián)一個(gè)200電阻,0.1uf電容到地。

  3:MCLR上拉1k、0.1uf電容到地。

  4:MCLR上拉4.7k、串聯(lián)一個(gè)1k電阻,0.1uf電容到地。

  5:禁止MCLR,MCLR腳下拉一個(gè)1k電阻到地,電阻并一0.1uf電容。

  以上都試過,怎么也打不過去,實(shí)在不行我只好換16F74+24C02來搞了,暈,代碼都寫好了。。

  PCB我布的比較小心,應(yīng)該沒什么問題啊,我用過的AVR的EFT,ESD測試都是超強(qiáng)啊,PIC的16fxxx怎么會(huì)這樣呢,是不是還有什么沒注意到啊?

  打一下數(shù)碼管就黑一下,單片機(jī)復(fù)位,暈實(shí)在暈表現(xiàn)和以前16F57 時(shí)如出一轍。。。

  單片機(jī)接去耦電容了嘛?

  接在什么地方,遠(yuǎn)嗎?

  加了,0.1uf+10uf很近,近的不能在近了,PCB嚴(yán)格按照單片機(jī)常用的布線方法。

  建議增加EMC技術(shù)專欄,現(xiàn)在新出的一些片子功能很不錯(cuò)可是16F***抗干擾都很垃圾,我現(xiàn)在都不敢用這些新片子。主要是靜電放電,以前microchip的客服跟我說在輸入口串一個(gè)1k電阻,我想如果這樣的話那設(shè)計(jì)真的需要很小心(芯片外圍包者一圈電阻???)。我用PIC三四年了,算是個(gè)老用戶了我現(xiàn)在很困惑,如果這個(gè)問題得不到解決的話,下次開發(fā)新項(xiàng)目真不敢用了。因?yàn)檫@不是我第一次碰到這個(gè)問題,而且我的兩位同事在不同的項(xiàng)目中也都碰到這個(gè)問題了。。。。

  支持!數(shù)字產(chǎn)品的抗干擾問題確實(shí)是最讓人頭痛的。

  難道這個(gè)芯片出來這么久了就沒人用過嗎,用過的人就都很好嗎,沒出過這樣的問題嗎?

  我在用。但是我不懂這些,呵呵。

  我的項(xiàng)目對(duì)抗干擾要求也很高??戳诉@個(gè)有點(diǎn)怕,靜電的不管,希望不要干擾到我的信號(hào)。。。

  脈沖群測試是用什么設(shè)備?直接打電源么.

  靜電放電選用的是什么設(shè)備?

  輸入信號(hào)端口抗干擾測試是用什么設(shè)備?

  搞笑帖,多從自己身上找問題把……

  俺大把大把用著PIC16F913/914呢,沒有你說的問題……

  1樓說的AVR的ESD性能比PIC16F91X強(qiáng)的觀點(diǎn)只是你個(gè)人的看法,AVR的ESD是它的一個(gè)軟肋,AVR的MEGA系列印象中似乎只有 MEGA16比較好一點(diǎn),這你可以直接從AVR提供的手冊中查到數(shù)據(jù)。

  對(duì)于MCU來說,PIC的ESD性能遠(yuǎn)遠(yuǎn)比AVR強(qiáng)的,你那是氣隙放電,所以可以用15KV測試,我手上的靜電槍可以打到30KV,一般設(shè)計(jì)得當(dāng),過20KV是沒問題的。

  在這談?wù)勱P(guān)于靜電處理的常見方法,對(duì)付靜電一般有如下幾招:

  1:要有足夠的地面積,有了足夠的地面積,還要注意要保證有足夠小的地阻抗。

  這可以從干擾的本質(zhì)說起,干擾的實(shí)質(zhì)是快速變化的電壓或電流,歸結(jié)到最好其實(shí)就是快速變化的電流引起‘地’的不穩(wěn)定,當(dāng)?shù)刈杩乖叫?,其能承受的干擾等級(jí)就越強(qiáng),當(dāng)?shù)刈杩篂槔硐氲?阻抗時(shí),就沒有了干擾這個(gè)說法。

  所以,這是第一注意的,一般布線規(guī)則強(qiáng)調(diào)地線要盡量粗點(diǎn),也就基于此,當(dāng)?shù)鼐€盡量粗,只是一種美好愿望,因?yàn)镻CB都是有尺寸限制的,所以我們此時(shí)要學(xué)會(huì)計(jì)算地阻抗。

  計(jì)算方法?

  不需要真正的去計(jì)算,如果需要那么麻煩的去計(jì)算,就需要數(shù)學(xué)建模,這個(gè)模型還不一定準(zhǔn)確,現(xiàn)在的電子產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間就是生命,所以很多時(shí)候就得靠經(jīng)驗(yàn),經(jīng)驗(yàn)怎么來?

  這。這。。這。。。這需要你自己去總結(jié),歸納,試驗(yàn),但一般遵循以下的定理總是沒有錯(cuò),這個(gè)鼎鼎大名的定理就是歐姆定律,請(qǐng)自己思考一下地阻抗和歐姆定律的關(guān)系把……

  2:在地阻抗已經(jīng)是你能設(shè)計(jì)出的最小阻抗的情況下,我們已經(jīng)沒有辦法將地阻抗再降低了,此時(shí)還有干擾怎么辦?

  很簡單啊,兩個(gè)字:距離,VCC和GND間有了距離所以安全,干擾和信號(hào)間有了距離可以平安,盡量增加可能引入干擾處的PCB到端口的距離,很多人布板的時(shí)候,喜歡鋪銅,鋪銅本身是一種良好的習(xí)慣,但不恰當(dāng)?shù)匿併~卻會(huì)帶來問題,例如,很多人鋪銅的時(shí)候,銅層過于靠近板邊緣,那么這就很危險(xiǎn),為什么?

  請(qǐng)想一想:測試靜電的時(shí)候,人們都習(xí)慣怎么做?

  找縫隙啊,找結(jié)構(gòu)上的縫隙,如果鋪銅太靠近邊緣,你說結(jié)果會(huì)是怎么樣的呢?

  3:如果上面兩點(diǎn)你都處理不好,怎么辦?

  嘿嘿,聽說過膠嗎?好象還有什么紙什么的……

  4:另外也要注意以下常規(guī)的硬件處理,產(chǎn)品的引入引出都需要做一些特別的處理,因?yàn)楹苋菀讖倪@個(gè)薄弱的地方引入干擾。

  5:軟件抗干擾?

  那當(dāng)然了,但這個(gè)話題太大了,要引開這個(gè)話題,那就太浪費(fèi)俺的時(shí)間了,俺說它三天三夜也說不完,所以:不說了……

  請(qǐng)自己思考把。

  給你一些靜電測試的案例參考一下(氣隙放電,按CE標(biāo)準(zhǔn)測試):

  MICROCHIP:一般都能做到15KV以上,但即使30KV測試,最多 MCU出現(xiàn)RST,在我的測試中未見擊穿。

  HOLTEK:一般能測試到8KV以上,超過15KV以后容易出現(xiàn)MCU被擊穿的現(xiàn)象。

  AVR:一般能也能測試到15KV以上,但不同型號(hào)間,還是有較多差異的,具體數(shù)據(jù)可參考ATMLE自己提供的一份有關(guān)接觸放電的測試報(bào)告,我的PC上沒有保留,可自己GOOGLE一下,超過20KV后偶爾出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象。

  MOTO908系列:和PIC差不多,沒見到什么區(qū)別

  NEC:和AVR差不多,但不得不提的是,NEC的EFT測試比AVR要強(qiáng)一些(俺不喜歡日貨,但希望中肯的對(duì)它評(píng)價(jià)一下)

  ST:沒測試過它的ESD,因?yàn)榘硾]用過這個(gè)廠家的MCU,但測試過一些廠家生產(chǎn)的樣機(jī),主觀感覺,質(zhì)量還可以

  NXP:比AVR差點(diǎn),但不是很明顯,一般產(chǎn)品,設(shè)計(jì)得當(dāng)也沒什么問題

  有一個(gè)4位機(jī),相信大家可能有了解的,SINO也就是中穎,我用過69P42/43,KAO,EFT/ESD超猛,可惜是4位的,也可能正是因?yàn)槭?4BIT,所以才能超猛……

  謝謝,yewuy,如你所說我一直再自己身上找問題。我想我還是具有一定的布板經(jīng)驗(yàn)也參考了MICROCHIP的EMC文檔。啥也不說了,我很快就移植到 16F74+24C02了,這個(gè)片子我以前測試過比較好,用實(shí)踐證明證明一下吧。AVR的我不知道你是怎么用的,但是AVR的復(fù)位端子加個(gè)電容后其EMC 性能確實(shí)不下PIC的16C57(我在實(shí)際項(xiàng)目中測試過的)。另外紙我不想考慮,如果到這個(gè)地步只能證明設(shè)計(jì)的失敗,那么我只想重來。

  俺也曾經(jīng)大把的用過16F74

  但16F74用的人似乎不多,出貨有的時(shí)候有問題,而且16F74價(jià)格和性能都不怎么樣,所以,俺已經(jīng)淘汰它了……

  還有一個(gè)MCU俺沒說,那就是MSP430,這個(gè)東西比較嬌貴,但如果設(shè)計(jì)得當(dāng),也是沒問題的,我以前吃過它的虧,開始用的時(shí)候按照一些通用規(guī)則搞搞,測試結(jié)果沒達(dá)到俺的要求,后來認(rèn)真研究研究它的一些結(jié)構(gòu),其實(shí)還是有辦法搞定它的……

  LS說的在復(fù)位端加電容才能解決的問題,說實(shí)話,這是一種很恐怖的事情,良好的設(shè)計(jì)應(yīng)該是少掉一些東西性能沒有明顯下降才可以的,如果一個(gè)設(shè)計(jì)缺少某一個(gè)電容就出現(xiàn)如果大的性能差異,那恐怕會(huì)……

  不知道PSOC東西怎么樣,最近打算抽空搗鼓它……

  今天興致高,就再胡說點(diǎn)……

  關(guān)于產(chǎn)品的EMC性能,很多人不知道如何處理,對(duì)著死機(jī)或者復(fù)位的現(xiàn)象嘆息,往往不知道如何是硬件還是軟件才能解決問題,其實(shí)簡單點(diǎn),可以先從以下幾點(diǎn)思考:

  1:先確定是死機(jī)還是不斷的復(fù)位,如果在測試中發(fā)現(xiàn)不斷的復(fù)位,那么首先要處理的是硬件,一個(gè)系統(tǒng)你首先要保證你的軟件能跑起來才行,所以測試中連續(xù)不斷的復(fù)位只能說明硬件設(shè)計(jì)不良。

  2:如果通過修改硬件可以達(dá)到在測試時(shí)不連續(xù)復(fù)位,但偶爾會(huì)死機(jī)怎么辦?

  基本上是軟件比較差,MCU一般都很忠實(shí)的執(zhí)行指令的,考慮程序結(jié)構(gòu),異常處理等等去把……

  3:如果測試中出現(xiàn)偶爾復(fù)位,但不會(huì)死機(jī)怎么辦?

  這個(gè)情況比較復(fù)雜,但產(chǎn)品能做到這一步,說明你已經(jīng)有一定的設(shè)計(jì)/分析能力,這需要你自己分析了,一般情況下,這個(gè)與硬件關(guān)聯(lián)多一些。

  4:要說明一點(diǎn):在某種等級(jí)下出現(xiàn)例如偶爾復(fù)位不死機(jī)不等于加強(qiáng)測試不出現(xiàn)死機(jī),所以要多種測試等級(jí)參考著來

  5:完蛋了,怎么寫著寫著,想睡覺,最近休息不良……

  就說F914 吧,復(fù)位端不加0.1uf電容的話,你試過嗎,我昨天試過了EFT連1.8kV都沒過,加了電容馬上過4kV。事實(shí)擺在眼前,不知該怎么解釋?我當(dāng)然知道 F74的性價(jià)比了,否則我也不會(huì)一開始用F914的了。MSP430我也測試過,靜電有點(diǎn)麻煩,但最后加了一些措施也很容易過了,從測試的表現(xiàn)上看,比 914要強(qiáng)一些。測試標(biāo)準(zhǔn)符合GB/T17626.2,GB/T17626.4。

  PIC的片子用了很長時(shí)間了,我用過和測試過的片子(16C57/CF775/16C54/16F72/16F73/16F877/16F873/16F630),一直都是比較信賴的,我想我肯定不是個(gè)高手,但決定不是菜鳥像我這樣的人可能代表了很大的一部分用戶。yewuyi 肯定是個(gè)高手,但是我就郁悶了,難道PIC的某些片子是給高手用的??914的這個(gè)問題我會(huì)研究到底的,我只想弄明白。。。。。。

  呵呵,說過笑話,俺用PIC的MCU的時(shí)候,

  很多時(shí)候都沒焊接RST口那個(gè)104電容,我直接一個(gè)5K1的電阻到VCC,一直測試EFT都是 4KV/(2.5KHZ/5KHZ/100KHZ)

  不會(huì)因?yàn)樯倭艘粋€(gè)104就那么脆弱的……

  如果是 PIC16C5X,樓上的接法過4kV我信,呵呵,但是是16F630或這個(gè)16F914MCLR腳的結(jié)構(gòu)和PIC16C5X根本就不同,連 microchip本身也是推薦采用上拉10k串1k并0.1uf,事實(shí)也是證明如此。。。。。

  這是 datesheet里的描述

  看看datesheet里的描述吧

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  另外,我不是專業(yè)的EMC測試人員,對(duì)國標(biāo)理解的不是很透我仔細(xì)查了IEC61000-4-2,發(fā)現(xiàn)IEC61000-4-2里明確規(guī)定的是放電頭接觸水平耦合板,我試過了,如果是接觸耦合板放電,那對(duì)產(chǎn)品根本就沒什么影響。但是如果是用圓頭靠近水平耦合板放出電火花,對(duì)產(chǎn)品影響很大,也就是說,這兩種測試方法對(duì)產(chǎn)品的影響有巨大的差異。我一直采用后者測試,用16f914的產(chǎn)品怎么都過不了6KV,今天剛好又測了另一個(gè)16F73做的產(chǎn)品,同樣的測試方法15kV一點(diǎn)問題沒有(以前用16c54和16c57做的也輕松過)。這兩個(gè)產(chǎn)品都是我做的,硬件線路幾乎一樣,只是規(guī)格不同,功能有所增減罷了(主要是軟件上)。還是擺在面前的事實(shí),不知這又如何解釋?

  門外漢關(guān)注中~呵呵~

  不過,從字面來看,如果是近距離放電火花的話,是不是牽涉到電磁波和電磁脈沖的問題,從而產(chǎn)生更大的干擾?我完全不懂的,隨口胡說的~

  Apollo 說的串電阻的方法我知道,正在進(jìn)行中,希望能解決,但是有一點(diǎn)我還是不明白,是什么原因?qū)е翭914和原來的F73之間的差異性,是工藝原因嗎?

  呵呵,lijp8000 沒弄明白為什么可以不接那個(gè)104電容哦

  設(shè)計(jì)的時(shí)候都是有的,只是實(shí)際焊接的時(shí)候,工程人員有是會(huì)偷懶去掉,但即使去掉,一般也沒什么大問題,因?yàn)楸緛硎怯械刃щ娙荽嬖诘?,另外,你的CONFIG要注意RST的配置,如果RST沒做別的用,就選擇內(nèi)部復(fù)位好了,此時(shí)只用一個(gè)電阻到VCC,也沒什么大問題了。

  ESD測試中,你那兩種方法都需要用,那一種失效都不能說過了測試……

  在一些數(shù)字輸入口的布線上,要適當(dāng)加一點(diǎn)曲線,可變相等于串了一個(gè)小電感在上面,輸入口上一般限流電阻不要少,而且一般盡量靠近MCU部分,如果 PCB面積容許,在輸入口限流電阻前可適當(dāng)考慮加個(gè)小電容到GND或者VCC

  F73可能是0.5工藝,F(xiàn)913可能是0.35工藝,這是猜測,未經(jīng)證實(shí)。

  至于你說的原來的F73通過,基本一樣的PCB,搞成F913就通不過的問題,呵呵,這讓俺想起很久以前的一個(gè)說法:PIC16F73簡直就是垃圾,一樣的PCB,用PIC16C73好好的,換成PIC16F73就很差……

  呵呵,不同型號(hào)的MCU,可能薄弱環(huán)節(jié)不一樣,除非你原來的設(shè)計(jì)考慮得很周全,否則,可能在新的設(shè)計(jì)中,這個(gè)薄弱環(huán)節(jié)就露出來了……

  其實(shí)你也不急,出現(xiàn)問題是好事情,這是提高自己的一次好機(jī)會(huì),老不出現(xiàn)問題,人就變的懶惰了,就沒什么動(dòng)力去研究問題了,呵呵,關(guān)于這段話,有點(diǎn)謬論了……



關(guān)鍵詞: pic 防靜電

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