新聞中心

EEPW首頁(yè) > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > EMC測(cè)試要點(diǎn)及故障排除方案解析

EMC測(cè)試要點(diǎn)及故障排除方案解析

作者: 時(shí)間:2016-09-12 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

在實(shí)際測(cè)試應(yīng)用中,除了通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)資格實(shí)驗(yàn)室的鑒定測(cè)試以外,還有兩種可行的方法也是被業(yè)界所認(rèn)可的:TCF和Self Ceritification(自檢證明)??垢蓴_能力測(cè)試是十分實(shí)用的測(cè)試項(xiàng)目。實(shí)現(xiàn)電磁兼容的最好辦法是,將所有的數(shù)字及模擬電路均視為對(duì)高頻信號(hào)響應(yīng)的電路,用高頻設(shè)計(jì)方法來(lái)處理電費(fèi)屏蔽、PCB布線和共模濾波。采用整塊地平面和電源面也很重要,對(duì)模擬電路也該如此,這樣做有利于限制高頻共模環(huán)環(huán)。大多數(shù)瞬態(tài)干擾均屬高頻,并產(chǎn)生很強(qiáng)的輻射能量。


上一頁(yè) 1 2 3 下一頁(yè)

關(guān)鍵詞: EMC EMI

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉