排查EMI問題的實(shí)用性技巧

跟蹤EMI輻射源

在這個(gè)例子中，小型微控制器的EMI掃描指示有一個(gè)超限故障似乎來自于中心頻率約為144MHz的寬帶信號(hào)。借助MDO的頻譜分析儀功能，第一步是將H場探針連接到射頻輸入端，用相對(duì)的近場測量定位能量源。

如上所述，重要的一點(diǎn)是H場探針的方向要讓環(huán)路平面與待測導(dǎo)體保持一致。在PCB周圍移動(dòng)H場探針，你就可以定位能量源。通過選擇逐漸縮小孔徑的探針，你可以將搜索定位在一個(gè)較小的區(qū)域內(nèi)。

一旦定位到明顯的能量源，如圖10所示的射頻幅度與時(shí)間軌跡就能顯示這個(gè)范圍內(nèi)所有信號(hào)的完整的功率與時(shí)間關(guān)系。利用這個(gè)軌跡線可以清楚地看到顯示屏中有一個(gè)大的脈沖。移動(dòng)頻譜時(shí)間使其通過記錄長度，很明顯可以看到EMI事件(中心位于140MHz左右的寬帶信號(hào))直接對(duì)應(yīng)于這個(gè)大脈沖。為了使測量穩(wěn)定下來，打開射頻功率觸發(fā)器，然后增加記錄長度以判斷這個(gè)射頻脈沖發(fā)生的頻度。為了測量脈沖重復(fù)周期，打開測量標(biāo)記并直接判斷周期。

圖10：MDO的射頻幅度與時(shí)間軌跡(上圖)顯示在140MHz處有一個(gè)顯著的脈沖。頻譜圖形(下圖)顯示了這個(gè)脈沖的頻率內(nèi)容。

明確斷定EMI源的下一步是利用MDO的示波器功能。保持相同的設(shè)置，打開示波器的模擬通道1，瀏覽PCB以尋找與EMI事件同時(shí)發(fā)生的信號(hào)源。

在利用示波器探針瀏覽信號(hào)一段時(shí)間后，就可以發(fā)現(xiàn)圖11所示的信號(hào)：在這個(gè)案例中是一個(gè)電源濾波器。從顯示屏上可以清晰地看到，連接示波器通道1的信號(hào)與EMI事件直接相關(guān)?，F(xiàn)在就可以制訂EMI修復(fù)計(jì)劃了，以便在開展認(rèn)證測試之前解決這個(gè)問題。

圖11：使用示波器模擬通道上的無源探針找出與射頻關(guān)聯(lián)的信號(hào)。

本文小結(jié)

不能通過EMI一致性測試可能將產(chǎn)品開發(fā)計(jì)劃置于風(fēng)險(xiǎn)之中。然而，預(yù)先一致性測試可以幫助你在到達(dá)這個(gè)階段之前排除EMI問題。與高度受控的EMI測試線中的絕對(duì)測量不同，你可以使用EMI測試報(bào)告中的信息開展相對(duì)測量，并用它來隔離問題源，并估計(jì)修復(fù)效果。

高效的EMI排查一般是利用近場探測方法尋找相對(duì)高的電磁場，判斷它們的特征，然后使用混合域示波器將場活動(dòng)與電路活動(dòng)關(guān)聯(lián)在一起來判斷EMI源。本文概述的排查技術(shù)可以有效地幫助你隔離有害的能量源，以便于你在將設(shè)計(jì)提交給EMI認(rèn)證之前修復(fù)這個(gè)問題。