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正確排查EMI問題的四大實用性技巧

作者: 時間:2016-09-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

現(xiàn)在是把我們的目光專注到有害的源上面的時候了。當我們從的角度看任何一款產(chǎn)品時,整個設(shè)計可以被看作是能量源和天線的一個集合。問題的常見(但絕不是唯一)源包括:

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201609/303628.htm

電源濾波器

地阻抗

沒有足夠的信號返回

LCD輻射

元件寄生參數(shù)

電纜屏蔽不良

開關(guān)電源(DC/DC轉(zhuǎn)換器)

內(nèi)部耦合問題

金屬外殼中的靜電放電

不連續(xù)的返回路徑

為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問題中心的天線,你需要檢查被觀察信號的周期。信號的射頻頻率是多少?是脈沖式的還是連續(xù)的?這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進行監(jiān)視。

你還需要查看巧合性。待測設(shè)備(DUT)上的哪個信號與EMI事件是同時發(fā)生的?一般常見的做法是用示波器探測DUT上的電氣信號。檢查EMI問題與電氣事件的巧合性無疑是EMI排查中最耗時間的工作。過去,將來自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關(guān)聯(lián)在一起一直是很難做的一件事。

然而,混合域示波器(MDO)的推出使情況有了改觀,它能提供同步的而且與時間相關(guān)聯(lián)的觀察和測量功能。如圖5所示的這種儀器能夠相當容易地讓我們觀察哪個信號與哪個EMI事件同時發(fā)生,從而可以簡化EMI排查過程。

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圖5:混合域示波器(MDO)將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一臺儀表內(nèi),可以從全部三臺儀器中產(chǎn)生同步的而且與時間關(guān)聯(lián)的測量結(jié)果。圖中顯示的是泰克公司的MDO4000B。

MDO將混合信號示波器的功能和頻譜分析儀的功能整合在一起。借助這種組合,你能夠自動顯示模擬信號特征、數(shù)字時序、總線事務(wù)以及射頻并在這些信息基礎(chǔ)上實現(xiàn)觸發(fā)。一些MDO還能捕獲或觀察頻譜和時域軌跡,包括射頻幅度對時間、射頻相位對時間以及射頻頻率對時間的關(guān)系曲線。射頻幅度與時間軌跡如圖6所示。

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圖6:這張圖顯示了MDO提供的時間關(guān)聯(lián)觀察功能,圖中顯示了射頻幅度與時間的關(guān)系軌跡。

用近場探測開展相對測量#e#

用近場探測開展相對測量

雖然一致性測試過程設(shè)計用于產(chǎn)生絕對的校準過的測量,但排查工作很大程度上可以使用從待測設(shè)備發(fā)生的電磁場的相對測量方法。更有甚者,你可以使用 MDO的頻譜分析儀功能和射頻通道探測近場中的波阻行為,從而找出能量源來。與此同時,你可以用示波器某個模擬通道上的無源探針探測信號,以便發(fā)現(xiàn)與射頻關(guān)聯(lián)的信號。

不過首先你得了解一些有關(guān)待探測的電磁場區(qū)的一些背景知識。圖7顯示了處于近場和遠場中的波阻行為以及兩者之間的過渡區(qū)。從圖中可以看到,在近場區(qū)中,場的范圍可以從占主導(dǎo)地位的磁場到占主導(dǎo)地位的電場。在近場中,非輻射行為是主導(dǎo)的,因此波阻取決于源的性質(zhì)和距源的距離。而在遠場中,阻抗是固定不變的,測量不僅取決于在近場中可觀察到的活動,而且取決于天線增益和測試條件等其它因素。

圖7:這張圖顯示了近場和遠場中的波阻行為以及兩者之間的過渡區(qū)。近場測量可用于EMI排查。

近場測量是可用于EMI排查的一種測量,因為它不要求測試站點提供專門的條件就能讓你查出能量源。然而,一致性測試是在遠場中進行的,而不是近場。你通常不會使用遠場,因為有太多的變量讓它變得復(fù)雜起來:遠場信號的強度不僅取決于源的強度,而且取決于輻射機制以及可能采取的屏蔽或濾波措施。根據(jù)經(jīng)驗需要記住,如果你能觀察遠場中的信號,那么應(yīng)該能看到近場中的相同信號。(然而,能觀察到近場中的信號而看不到遠場中的相同信號是很可能的)

近場探針實際上就是設(shè)計用于拾取磁場(H場)或電場(E場)變化的天線。一般來說,近場探針沒有校準數(shù)據(jù),因此它們適合用于相對測量。如果你對用于測量H場和E場變化的探針不熟悉,那么最好了解一些近場探針設(shè)計和最佳使用方法:

H場(磁場)探針具有獨特的環(huán)路設(shè)計,如圖8所示。重要的是,H場探針的方向是有利于環(huán)路平面與待測導(dǎo)體保持一致的,這樣布置的環(huán)路可以使磁通量線直接穿過環(huán)路。

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圖8:將H場探針與電流流向保持一致可以使磁場線直接穿過環(huán)路。

環(huán)路大小決定了靈敏度以及測量面積,因此在使用這類探針隔離能量源時必須十分小心。近場探針套件通常包含許多不同的環(huán)路大小,以便你使用逐漸減小的環(huán)路尺寸來縮小測量面積。

H場探針在識別具有相對大電流的源時非常有用,比如:

低阻抗節(jié)點和電路

傳輸線

電源

端接導(dǎo)線和電纜

E場(電場)探針用作小型單極天線,并響應(yīng)電場或電壓的變化。在使用這類探針時,重要的是你要保持探針垂直于測量平面,如圖9所示。

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圖9:將E場探針垂直于導(dǎo)體放置以便觀察電場。

在實際應(yīng)用中,E場探針最適合查找非常小的區(qū)域,并識別具有相對高電壓的源以及沒有端接的源,比如:

高阻抗節(jié)點和電路

未端接的PCB走線

電纜

在低頻段,系統(tǒng)中的電路節(jié)點阻抗可能變化很大;此時要求一定的電路或?qū)嶒炛R,以確定H場或E場能否提供最高的靈敏度。在較高頻段,這些區(qū)別可能非常顯著。在所有情況下,開展重復(fù)性的相對測量很重要,這樣你就能肯定因為實現(xiàn)的任何變化引起的近場輻射結(jié)果能被精確再現(xiàn)。最重要的是,每次試驗改變時近場探針的布局和方面要保持一致。



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