低電壓檢測IC的復位電路

低電壓檢測IC的復位電路

? 當內(nèi)建的低電壓復位電路的電壓與應用規(guī)格不同時，可選用外部低電壓檢測IC 的復位電路。
? 可提供低電壓復位功能，需配合外部簡易型RC 復位電路或高抗干擾RC 復位電路來達到完整的復位功能。
? RRES、CRES、RN 和CN 的建議數(shù)值與簡易型RC 復位電路及高抗干擾RC 復位電路相同。
? CRES(針對簡易型RC 復位電路)和CN(針對高抗干擾RC 復位電路)在PCB 板上的位置及布線要求與簡易型RC復位電路及高抗干擾RC 復位電路相同。

內(nèi)部POR 電路和內(nèi)部低電壓復位電路
? 為加強MCU 的保護完整性，并簡化外部應用電路設(shè)計及成本，在MCU 內(nèi)部提供有上電復位(POR)電路和低電壓復位(LVR)電路。
? POR 電路主要是內(nèi)建一組低RC 時間常數(shù)的復位電路，具有上電時產(chǎn)生復位的功能。其對MCU 內(nèi)部的初始化動作，除了TO 和PDF 旗標被清為“0”之外，其余的狀態(tài)均與RES 復位相同。當使用此復位功能時，因POR 時間常數(shù)較小，為了使POR 可以正常動作，電源上升速度應盡量要求快速。
? LVR 電路主要功能是當VDD 小于特定電壓(視規(guī)格而定)，且持續(xù)時間大于1ms 時，LVR 將會被激活，其對MCU 內(nèi)部的初始化動作與RES 復位相同