光電測試原理和基本知識(shí)（一）

有源的光電器件是一個(gè)基本的半導(dǎo)體 結(jié)，為了更全面的測試，不僅要求對(duì)其做 正向的I-V特性測試，也要求監(jiān)測反向的 I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管電流驅(qū)動(dòng)在實(shí)驗(yàn)室級(jí)別是合適的，但是對(duì)于開發(fā)半導(dǎo)體器件完整的測試方案并不合適。而2400系列數(shù)字源表將源輸出與測量的能力集成在一起，非常適用于半導(dǎo)體器件的特性分析。

對(duì)于一個(gè)有源光電器件完整的特性分析需要正向和反向的電壓和電流源。例如，反向擊穿測試需要輸出一個(gè)非常小的、精密的反向電流(10nA)的同時(shí)測量電壓。

有限的電流避免了對(duì)器件造成永久的破壞，同時(shí)可以進(jìn)行精密的擊穿電壓的測試。已知擊穿電壓之后，就可以對(duì)器件加一個(gè)安全的反向偏置，同時(shí)測試該器件的漏流。器件的漏電流指標(biāo)對(duì)于器件的進(jìn)一步分析將會(huì)很有幫助。

四象限的源輸出能力

數(shù)字源表系列集成了完整的四象限精密源(圖3)和測量能力。源和測量的能力從低到1μA或2 0 0 m V的量程到高到5A或1000V的量程。這種廣泛的動(dòng)態(tài)量程使得測試眾多的器件成為可能，例如AlGaAs激光二極管，Si材料的光電管。

接觸檢查功能
2400數(shù)字源表系列都有具備接觸檢查功能的選項(xiàng)，這一功能使得在對(duì)器件激勵(lì)信號(hào)或者測試前自動(dòng)地識(shí)別所有的測試線纜是否已經(jīng)連接到被測器件上。圖6顯示了這一功能識(shí)別出了遠(yuǎn)端的Sense端沒有連接到被測器件。Sense端沒有連接的話，執(zhí)行測試時(shí)，電壓嵌位功能沒有作用。

遠(yuǎn)端電壓測量
數(shù)字源表系列儀器提供2線法和4線法的測量能力。2線法測試中的測試與源輸出共用一套表筆。如圖7a。當(dāng)輸出高電流時(shí)，相比于被測器件上的正向壓降，損耗在測試表筆上的電壓降可以忽略。

4線法電壓測試使用單獨(dú)的表筆測試DUT上面的壓降。因?yàn)殡妷簻y試的回路具有非常高的輸入阻抗，因此該回路中測量表筆上流過的電流非常小，相對(duì)于DUT上的電壓降，這個(gè)小電流在表筆上所產(chǎn)生的壓降就可以忽略。