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一文通解基于VLT技術(shù)的新型DRAM內(nèi)存單元

作者: 時(shí)間:2017-01-03 來(lái)源:EE Times 收藏

  讀取內(nèi)存分頁(yè)數(shù)據(jù)涉及一連串的活動(dòng),類(lèi)似于兩個(gè)巢式的軟件DO回路(Do loop)。每一分頁(yè)內(nèi)存被分成由許多256字節(jié)成、成批(burst)讀取的內(nèi)存群組,因此,一組16K位分頁(yè)就有64個(gè)burst內(nèi)存群組,依序讀取完整的內(nèi)存頁(yè),這類(lèi)似于外部DO回路。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201701/342389.htm

    

一文通解基于VLT技術(shù)的新型DRAM內(nèi)存單元

  圖4:內(nèi)存分頁(yè)由分批依序讀取的內(nèi)存群組構(gòu)成;每一批burst群組均依據(jù)16個(gè)連續(xù)的16位傳送到I/O。

  每個(gè)突發(fā)傳輸組被加載256位的DDR緩存器中,該緩存器被分為16個(gè)16位字,并依序讀取其內(nèi)容,為每一個(gè)頻率邊緣提供每一個(gè)16位字。這種操作方式則如同內(nèi)部DO回路。

  每一行的地址(RAS)負(fù)責(zé)選擇分頁(yè)。同時(shí),每一列的地址(CAS)選擇突發(fā)傳輸組,并設(shè)置從DDR緩存器中開(kāi)始讀取的字符,因而不必從DDR緩存器的左側(cè)開(kāi)始讀取。

  值得注意的是,在隱藏緩存器執(zhí)行回寫(xiě)、讀取或?qū)懭隓DR緩存器中原先加載數(shù)據(jù)的同時(shí),DDR緩存器已經(jīng)開(kāi)始從儲(chǔ)存數(shù)組中讀取數(shù)據(jù)或從外部加載所寫(xiě)數(shù)據(jù)了。

  LPDDR的運(yùn)作

  LPDDR4功能本質(zhì)上包含四項(xiàng)基本操作:?jiǎn)?dòng)、讀取、寫(xiě)入和預(yù)充電。這些操作的其他變異形式,如突發(fā)讀取/寫(xiě)入和自動(dòng)預(yù)充電等,可能構(gòu)成一個(gè)更長(zhǎng)的指令列表,但并不至于帶來(lái)新的技術(shù)挑戰(zhàn)。此外,它還添加了刷新、訓(xùn)練和模式緩存器作業(yè)等維護(hù)性指令,以因應(yīng)復(fù)雜的操作命令。

  這些基本的操作簡(jiǎn)要介紹如下: 啟動(dòng): 在內(nèi)存數(shù)組中選擇特定字符線(wordline),即可“開(kāi)啟”一個(gè)分頁(yè)。該分頁(yè)上的內(nèi)容將會(huì)被感測(cè)到并進(jìn)行鎖存,然后保持開(kāi)啟以用于在讀取作業(yè)時(shí)進(jìn)行回寫(xiě),或在“讀取-修改-寫(xiě)入”作業(yè)時(shí)被再次寫(xiě)入。 讀?。?nbsp;開(kāi)啟讀取數(shù)據(jù)序列,每個(gè)burst內(nèi)存群組的數(shù)據(jù)會(huì)從感測(cè)放大鎖存中被加載到DDR緩存器中。緊接著DDR緩存器開(kāi)始依序讀取,每次讀取一個(gè)16bit字。同時(shí),芯片透過(guò)隱藏緩存器在仍保持開(kāi)啟狀態(tài)的分頁(yè)上進(jìn)行回寫(xiě)。 寫(xiě)入: 數(shù)據(jù)被加載DDR緩存器,每次一個(gè)16位字。數(shù)據(jù)隨后被轉(zhuǎn)移到隱藏緩存器中,待分頁(yè)開(kāi)啟時(shí)寫(xiě)入數(shù)據(jù)。當(dāng)進(jìn)行寫(xiě)入時(shí),DDR緩存器可依需要同時(shí)加載新的256位數(shù)據(jù),等待下一次寫(xiě)入。 預(yù)充電: 在最后一個(gè)burst內(nèi)存群組被讀取或?qū)懭牒?,?nèi)存數(shù)組必須為下一次操作做好準(zhǔn)備。在寫(xiě)入情況下,必須等待一個(gè)寫(xiě)入恢復(fù)延遲,以確保最后的burst群組可在繼續(xù)其他操作前被成功寫(xiě)入。這時(shí),開(kāi)啟的分頁(yè)已被關(guān)閉,使位線能夠自由浮動(dòng),并重新充電回到先前提到的VDD/2電位。

  值得注意的是,只有啟動(dòng)操作才涉及內(nèi)存數(shù)組感測(cè);讀取操作只涉及在鎖存感測(cè)數(shù)據(jù)與DDR緩存器之間傳輸數(shù)據(jù),以及讀取DDR緩存器的數(shù)值。

  根據(jù)所需的操作序列不同,有些DDR的時(shí)序可能極其復(fù)雜。但如果相鄰讀取操作發(fā)生在不同內(nèi)存組的數(shù)據(jù)之間,則可大幅簡(jiǎn)化時(shí)序。因?yàn)樵趶南乱粋€(gè)內(nèi)存組中讀取數(shù)據(jù)之前,不必在原有的內(nèi)存組中等待回寫(xiě)和預(yù)充電。時(shí)序控制最困難的是來(lái)自同一內(nèi)存組的連續(xù)讀寫(xiě)。

  實(shí)現(xiàn)內(nèi)存數(shù)組:MAT

  理論上,盡管一個(gè)內(nèi)存組的邏輯容量可能達(dá)到32K行與16K列,但以現(xiàn)有技術(shù)而言,現(xiàn)實(shí)上并不可能制造出這樣的內(nèi)存數(shù)組。這是因?yàn)椋?/p>

  ? 驅(qū)動(dòng)器在選擇分頁(yè)時(shí)的驅(qū)動(dòng)能力有限;在性能符合規(guī)格要求的前提下,只有一定數(shù)量的選定晶體管可以被驅(qū)動(dòng)。

  ? 感測(cè)放大只能支持有限數(shù)量的儲(chǔ)存單元。如果儲(chǔ)存單元的數(shù)量太多,由于電荷分配造成電壓變化減小,而被噪聲淹沒(méi)。

  因此,為了確保內(nèi)存芯片可靠且易于制造,每一種內(nèi)存應(yīng)用都存在不同程度的實(shí)體尺寸限制。達(dá)到這種上限的內(nèi)存數(shù)組被稱(chēng)作“內(nèi)存數(shù)組片”(memory array tile;MAT)。每個(gè)MAT都是功能齊全的數(shù)組,本身包含字符線和位線的譯碼以及感測(cè)放大器。

  以一種采用2x-nm工藝節(jié)點(diǎn)的一般 MAT為例,其位線和字符線的規(guī)模分別達(dá)到1,024條和620條。字符線的數(shù)量并不是2的整數(shù)次方,這帶來(lái)了一些解碼方面的挑戰(zhàn)。該芯片或許只用了最后的幾個(gè)MAT,但這是一個(gè)可以忽略的芯片建置細(xì)節(jié)。

  透過(guò)打造一個(gè)16×53大小的MAT數(shù)組,可為具有這一尺寸的內(nèi)存組實(shí)現(xiàn)總共848個(gè)MAT。一個(gè)完整分頁(yè)整合一行MAT的內(nèi)存單元:當(dāng)開(kāi)啟一個(gè)分頁(yè)時(shí),同時(shí)啟動(dòng)同一行有MAT內(nèi)存單元上相應(yīng)的字符線。

一文通解基于VLT技術(shù)的新型DRAM內(nèi)存單元

  圖5:傳統(tǒng)的實(shí)體布局

  在了解了這些背景知識(shí)后,接下來(lái)將討論全新的Kilopass內(nèi)存單元,以及它如何打造與此相同的儲(chǔ)存組。



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