基于HARQ的TD－LTE基站性能測試方案
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如果測試環(huán)境確實希望使用外置信道仿真器，則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號發(fā)生器即可完成上述系統(tǒng)的測試。典型的測量系統(tǒng)如圖3所示。
圖3 N5182B/72B MXG-B測試系統(tǒng)
2.2 軟件平臺
PXB或N5182B/72B通過Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測試信號，并實時地調(diào)整編碼冗余因子。
圖4 上行信號配置
圖5 HARQ設(shè)置
2.3 反饋信號格式
基站下發(fā)給PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信號以RS232C串行通信的數(shù)據(jù)格式進(jìn)行編碼，PXB或N5182B/72B根據(jù)相同的編碼速率和格式進(jìn)行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號由8個比特組成，1個起始位，1個停止位，無奇偶校驗位。具體的數(shù)據(jù)格式如表2所示。
表2 ACK/NACK編碼格式（LSB）
比特位 | 0 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
ACK | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 1 |
NACK | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 1 |
3測試結(jié)果
按照測試結(jié)構(gòu)圖搭建好測試系統(tǒng)并配置軟件平臺，啟動基站及PXB或N5182B/72B，同時在示波器和基站控制端觀察測試結(jié)果。
圖6 PXB或N5182B/72B實時響應(yīng)
圖6為示波器上觀察到的PXB或N5182B/72B實時響應(yīng)。通道1、2、3和4分別為上行信號幀頭、ACK/NACK指令序列、上行信號I/Q數(shù)據(jù)以及PXB或N5182B/72B的ACK/NACK響應(yīng)（高電平為ACK，低電平為NACK）。如圖所示，HARQ時序響應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議完全相符。
基站端對上行射頻信號進(jìn)行分集接收并解調(diào)，然后通過CRC校驗對接收結(jié)果作出判斷，最后得到在特定衰落模型下的系統(tǒng)吞吐率。
根據(jù)3GPP TS 36.141規(guī)定，選取PUSCH，20MHz帶寬信號作為測試案例。在2根接收天線，Normal CP下，按照列出的前10個Case依次測試，結(jié)果如下：
表3 PUSCH，20MHz 帶寬下PUSCH性能測試結(jié)果
Case | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 |
標(biāo)準(zhǔn)值（%） | 30 | 70 | 70 | 70 | 30 | 70 | 30 | 70 | 70 | 30 |
實測值（%） | 35 | 81 | 80 | 71 | 46 | 84 | 42 | 85 | 73 | 31 |
4結(jié)論
結(jié)果表明，系統(tǒng)完全滿足標(biāo)準(zhǔn)測試要求。測試過程透明可見，結(jié)果顯示直觀可信。同時，該測試系統(tǒng)在不添加任何硬件配置的情況下，僅僅通過軟件配置即可實現(xiàn)1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，從而實現(xiàn)基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能測試，是TD-LTE基站性能測試的理想平臺。
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