基于ATE的FPGA測試

隨著集成電路技術的飛速發(fā)展，FPGA的應用越來越廣泛，其測試技術也得到了廣泛重視和研究。文章簡要介紹了FPGA的發(fā)展及其主要組成部分，提出了一種用ATE對FPGA進行測試的方法和具體測試流程。以一段Xilinx XC3042的真實配置數(shù)據(jù)為例詳細描述了Intel HEX文件格式，以及將其轉(zhuǎn)換成二進制配置碼的方法，并介紹了FPGA的配置碼格式和配置數(shù)據(jù)長度的計算方法。然后，以外設配置模式為例，通過XC3042的配置電路原理圖和配置時序詳細描述了FPGA的配置原理；最后給出了采用ATE（Automatic Test Equipment）-J750對FPGA的配置與測試過程，為FPGA的通用測試提供了一種切實可行的有效方法。

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