MVG發(fā)布StarLab 50 GHz, 樹立5G OTA測(cè)試新里程碑

　　MVG 正式推出5G產(chǎn)品系列“Little Big Lab”的最創(chuàng)新產(chǎn)品 - StarLab 50 GHz測(cè)試系統(tǒng)。該產(chǎn)品是全球首臺(tái)可測(cè)試高達(dá)50 GHz高頻段的多探頭測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)。

　　基于5G的深入發(fā)展，新行業(yè)和新應(yīng)用也隨之層出不窮，作為天線測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的行業(yè)領(lǐng)袖，MVG為響應(yīng)市場(chǎng)對(duì)于高頻測(cè)試的需求，研發(fā)出劃時(shí)代產(chǎn)品StarLab 50 GHz，以使市場(chǎng)能及時(shí)應(yīng)對(duì)5G天線測(cè)試中的多方挑戰(zhàn)。

　　一直以電信、航空航天與國(guó)防產(chǎn)品的專長(zhǎng)技術(shù)享譽(yù)盛名的MVG， 將專門針對(duì)航空航天與國(guó)防產(chǎn)品上的傳統(tǒng)核心科技，應(yīng)用到高頻段5G產(chǎn)品的研發(fā)上，籍此，MVG在眾多領(lǐng)域上領(lǐng)尖的技術(shù)得以融匯貫通和不斷拓展。這一靈活高效的新產(chǎn)品策略在效率、準(zhǔn)確性和快速的產(chǎn)品上市時(shí)間等方面為客戶提供了保證。

　　StarLab 50 GHz - 業(yè)內(nèi)同類首款

　　MVG最新高頻段多探頭測(cè)試系統(tǒng)StarLab 50 GHz

　　StarLab 50 GHz是針對(duì)毫米波天線測(cè)試和OTA測(cè)試的卓越解決方案，其獨(dú)特的優(yōu)良特性具有以下優(yōu)點(diǎn)：

　　- 電子掃描探頭陣列的超快測(cè)試速度(比標(biāo)準(zhǔn)探頭快10倍)。

　　- 過采樣專利技術(shù)可在有限移動(dòng)情況下實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量。

　　- 球形結(jié)構(gòu)可使其測(cè)量由低到高不同方向性的各種類型天線。

　　小巧便攜的StarLab 50 GHz可為實(shí)驗(yàn)室騰出更多的空間和生產(chǎn)環(huán)境，并節(jié)約成本。全新版的產(chǎn)品堪稱是由內(nèi)到外的徹底革新，每個(gè)組件均有極致的細(xì)節(jié)體現(xiàn)。Starlab 50 GHz為 5G設(shè)備的開發(fā)和驗(yàn)證提供了一個(gè)具有前瞻性的交鑰匙解決方案。

　　MVG的應(yīng)用工程師Fabrice Herbinière 表示：“StarLab 50GHz凝聚了所有之前StarLab 測(cè)試系統(tǒng)取得成功的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，現(xiàn)其測(cè)試范圍拓展到18-50 GHz帶寬不僅有賴于對(duì)外部機(jī)械設(shè)計(jì)的重新考量，還得益于采用了最先進(jìn)的射頻技術(shù)。 ”

　　電信行業(yè)領(lǐng)頭公司已成為首批客戶

　　MVG的目標(biāo)是引領(lǐng)5G測(cè)試技術(shù)，領(lǐng)跑市場(chǎng)需求的最前沿。 通過提供可升級(jí)的靈活測(cè)試解決方案以滿足客戶未來(lái)的測(cè)試需求，MVG使用戶在研發(fā)新產(chǎn)品時(shí)具有過人的競(jìng)爭(zhēng)能力。 同時(shí)，MVG一直致力于優(yōu)化測(cè)試系統(tǒng)，以尋求在完全模塊化系統(tǒng)的靈活性與一體化解決方案的效率之間的最佳平衡，這也是MVG的核心競(jìng)爭(zhēng)力之一，通過多年來(lái)向全球最具競(jìng)爭(zhēng)力的公司提供一流的OTA測(cè)試系統(tǒng)得以證實(shí)。

　　StarLab 50GHz的推出受到了全球電信業(yè)的廣泛關(guān)注。

　　MVG董事長(zhǎng)Philippe Garreau表示：“自今年夏天，我們已向全球電信業(yè)內(nèi)數(shù)家數(shù)一數(shù)二的領(lǐng)先企業(yè)售出了多臺(tái)StarLab 50 GHz，這些客戶分別來(lái)自亞洲和美國(guó)。這正是我們與世界各地的客戶緊密合作的一個(gè)完美例證，我們的產(chǎn)品發(fā)展版圖與客戶的產(chǎn)品發(fā)展藍(lán)圖和市場(chǎng)需求緊密結(jié)合，積極推動(dòng)著具有競(jìng)爭(zhēng)力的測(cè)試系統(tǒng)的持續(xù)發(fā)展?！?/p>